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[参考译文] TMS320F28P650DK:TMS320F28P650DK DP83826AERHBR 未通过 ESD 测试

Guru**** 2927270 points

Other Parts Discussed in Thread: TMS320F28P650DK

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/tools/code-composer-studio-group/ccs/f/code-composer-studio-forum/1650256/tms320f28p650dk-tms320f28p650dk-dp83826aerhbr-fails-the-esd-test

器件型号: TMS320F28P650DK

大家好、我想问一下、我将 TMS320F28P650DK 与 DP83826AERHBR 一起使用、并构建了一个 EtherCAT 从站。 我目前遇到一个问题:在我的电路板上、在±8kV 下执行静电放电 (ESD) 测试时、很容易失败(复位)。 我已经尝试根据相关手册将 DP83826AERHBR 芯片的 Strap7 设置为低电平、也尝试将 Strap11 设置为高电平、但在 ESD 测试期间它仍然无法正常工作。 我想问是否有任何好的故障排除、解决方案或方法可以尝试?

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    您好:

    您能否提供寄存器 0xB 的读回? 我想确保 PHY 配置为 EMC 的最佳配置。

    我看到您正在观察复位情况。 您能否进一步说明这一看法?

    此致、

    Gerome

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    大家好、在我最初设计的电路板中、从寄存器 0x0B 读取的值为 0x0C;稍后、我查看了相应的 DB83826AE 文档、并在将 Strap7 拉至低电平后、从寄存器读取的值为 0。 使用上述两种静电放电 (ESD) 测试情况、它很容易发生故障(复位)。

    故障(复位)的具体表现为:PHY 链路上的链路 LED 和链路活动 LED 都快速关闭一段时间、然后恢复正常。

    谢谢!

    Hui

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    您好:

    为了获得采用 DP83826A 的最佳 EMC、建议将寄存器 0xB 设置为 0x1。 0xC 表示自举进入非最佳 RX_ER/MLT-3 错误、而 0x0 表示 FLD 完全关闭、这违反了 EtherCAT。

    我期望寄存器 0xB = 0x0 在 ESD 方面具有出色的性能、因此这可能表明布局可以关闭。

    关于故障表现、这表示 PHY 断开链路、但会自行恢复。 但是、真正的复位是如果 PHY 寄存器被擦除至其默认状态。 这对于区分非常重要。 我建议将一个虚拟值写入寄存器 0x4[5](假设您不打算使用 10M HD)、看看此值是否恢复。

    您能分享您的原理图和布局吗? 首选布局作为 Altium 文件或.pdf 文件、它们每页都有层。

    此致、

    Gerome

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    大家好、我尝试了所有三种方法(即将寄存器 0x0B 的值读取为 0x00、0x01、0x0B)、这种现象在所有情况下都是相同的。

    根据您对寄存器 0x4[5]的说法、我无法操作寄存器、如下图所示。 于是我切换到了另一个寄存器寄存器 0x09[2、3]来写入一个值、如下图所示。 在测试中、我发现我编写的值完全没有变化。

    最后、关于原理图、我需要申请确认。

    谢谢!

    Hui

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    您好:

    感谢您的反馈。 我认为下一步是仔细检查布局和原理图、看看这里是否存在影响 PHY 性能的因素。

    请告知我何时可以提供此信息。

    此致、

    Gerome