[参考译文] TMDSEMU200-U：错误–2131 连接到 TMS320DM6446AZWTA

尊敬的 Jay-J：

1. JTAG 连接器/适配器不匹配 DM6446 EVM 通常使用 14 引脚 JTAG 接头、而 XDS200 则随附 20 引脚 TI JTAG 连接器。 如果您使用的是 14 至 20 引脚适配器电缆、请仔细检查：
   • 适配器是此主板的正确类型（并非所有 14 引脚适配器的接线方式都相同）。
   • 针脚 1 方向/键控正确对齐—反向或偏置连接是造成此“卡滞“图案的典型原因。
2. 电路板电源  在 开始调试/测试会话之前确认目标电路板已完全通电且稳定。 未通电或欠压目标也会产生同样的扫描失败。
3.  要实现 JTAG 仿真引导模式、需要正确配置（上拉）DM6446、EMU0/EMU1 上的 EMU0/EMU1 引脚状态。 如果这些引导模式引脚配置错误、器件将不会为仿真器提供有效的扫描路径。
4. 检查是否有弯曲/损坏的针脚 检查仿真器侧连接器和主板接头是否有弯曲、凹入或损坏的针脚—容易被忽视、但会像您看到的那样导致间歇/卡住的位。
5.  在目标配置中、在 XDS200 连接的高级属性下、尝试使用较低的 JTAG 时钟 (TCLK)、并尝试降低 JTAG 时钟速度。 信号完整性问题（长电缆，适配器）有时仅在较高的时钟速率下出现。
6. 隔离 POD 如果您可以访问另一个已知良好且支持 JTAG 的目标、请测试其上的 XDS200 以确认仿真器本身正常工作。 这将告诉您是否要关注电路板/布线侧。
7. 更新仿真驱动程序 自从您使用 CCS 5.3 以来、请转到 Help > Check for Updates 并确保您拥有最新的 XDS200 仿真包 — 较旧的 CCS 安装有时会提供过时的 FTDI/仿真驱动程序。

感谢您的答复。  

1.我有一个适配器,并已确认引脚方向。  

2、让电路板完全通电  

3、这些已经是这样设定的  

4、针脚没有问题  

5.这似乎提供了一些成功更多的下面

6.我可以尝试此操作、请注意此 PCB 上使用了 XDS510、以确认它可以运行。

7.我将研究这一点,我们有的 PC 没有在网络上的安全原因。  

至于第 5 点。 我做了一些调整时钟速度并重复测试配置。 2.2MHz JTAG –2.6MHz 似乎始终允许 IR DR 通过、我似乎找不到在 JTAG 完整性测试中提供接近通过结果的速度。  

----- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]-------

此路径长度测试使用 512 个 32 位字的块。

JTAG IR 指令路径长度的测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为 2 位。

JTAG DR 旁路路径长度的测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为 0 位。

----- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]------------------------

此测试将使用 512 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
测试 3 字 0：扫描出 0xFE03E0E2 并在 0xFC07C1C5 中扫描。
测试 3 字 1：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFC07C1C5 中扫描。
测试 3 字 2：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFC07C1C5 中扫描。
测试 3 字 3：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFC07C1C5 中扫描。
测试 3 字 4：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFC07C1C5 中扫描。
测试 3 字 5：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFC07C1C5 中扫描。
测试 3 字 6：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFC07C1C5 中扫描。
测试 3 字 7：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFC07C1C5 中扫描。
前 8 个错误的详细信息已提供。
实用程序现在将只报告失败测试的计数。
扫描测试：3、跳过：0、失败：1
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：2
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：3
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：4
其中一些值已损坏 — 66.5%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

----- [对 JTAG DR 执行完整性扫描测试]--------------------

此测试将使用 512 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR Integrity scan-test 已成功。

[end]e2e.ti.com/.../2.0MHz．txt

尊敬的 Jay-J：

• 已扫描输出：

  0xFE03E0E2

• 已扫描：

  0xFC07C1C5

.ccxml

irLength

• ARM926 内核 —IR 长度= 4 位
• DSP (C64x+) 内核 —IR 长度= 38 位（或组合链长度，具体取决于配置）

TMS320DM6446

• 连接：

  Texas Instruments XDS200 USB Debug Probe

• 电路板/器件：

  TMS320DM6446

  （不是 DM6441、DM6443 或通用 C64xx）

• 转至 software-dl.ti.com 并搜索 XDS200 固件更新 或 CCS 5.3 仿真包更新
• 通过 USB 传输并手动安装

TMS320DM6446AZWT

您好、只是一个更新  

1.我找不到用于更改配置长度的设置,代码编写器不会自动指定此设置吗?  

2.是的,我已确保设置正确。  

3.我更新了 TMDSEMU200-U 固件和仿真包。 这确实让我们稍微更近一点、请见下文。  

在今天进行了一些测试后、我可以在 2.0 –24MHz 附近得到大约 9%的损坏。 -刚刚从下面的测试结果注意到,现在将路径长度设置为 3 位,这可能是提高通过率的原因。 如果有办法进行调整、我认为这可能是需要的最后一个部分。  

 e2e.ti.com/.../2.3MHz．txt

【开始】

执行以下命令：

%ccs_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile%-r -o -S pathlength -S integrity

【结果】

----- [在 JTAG IR 和 DR 上执行标准路径长度测试]-------

此路径长度测试使用 512 个 32 位字的块。

JTAG IR 指令路径长度的测试成功。
JTAG IR 指令路径长度为 3 位。

JTAG DR 旁路路径长度的测试成功。
JTAG DR 旁路路径长度为 0 位。

----- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]------------------------

此测试将使用 512 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
测试 3 字 5：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFE03E0F2 中扫描。
测试 3 字 10：扫描出 0xFE03E0E2 并在 0xFF03E0E2 中扫描。
测试 3 字 16：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFE03F0E2 中扫描。
测试 3 字 21：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0x7E03E0E2 中扫描。
测试 3 字 22：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFE03E0E3 中扫描。
测试 3 字 33：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFE03E062 中扫描。
测试 3 字 50：扫描出 0xFE03E0E2、并在 0xFE03E0F2 中扫描。
测试 3 字 55：扫描出 0xFE03E0E2 并在 0xFF03E0E2 中扫描。
前 8 个错误的详细信息已提供。
实用程序现在将只报告失败测试的计数。
扫描测试：3、跳过：0、失败：1
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：2
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：3
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：4
其中一些值已损坏 — 9.3%。

JTAG IR 完整性扫描测试失败。

----- [对 JTAG DR 执行完整性扫描测试]--------------------

此测试将使用 512 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR Integrity scan-test 已成功。

【结束】

• ARM926 内核： IR 长度= 4 位
• DSP (C64x+) 内核： IR 长度= 38 位（如果两个内核都在扫描链中，则为组合链长度）

1. 确认您打算调试哪个内核
   • 如果要调试 ARM926、请确保为 ARM 内核配置了.ccxml 并 将 irLength 设置为 4.
   • 如果您正在调试 DSP (C64x+)、则 irLength 应为 38 （或 JTAG 链中所有器件的总和）。
2.  直接检查.ccxml 文件
   在文本编辑器中打开目标配置并查找

   irLength

   路径属性

   <device>

   或

   <instance>

   标签。 如果该文件缺失或设置为较低值（例如 2 或 3）、请手动将其更改为适合目标内核的正确长度并保存文件。
3. 使用 CCS 的 JTAG 链检测
   在 CCS 中、转到 Target→JTAG Chain Configuration→Detect。 让 CCS 从硬件读取实际 IR 长度、并将其与.ccxml 中的值进行比较。 如果不同、请更新.ccxml 以匹配检测到的值。
4. 验证器件选择
   确保中的电路板/器件字段 .ccxml 读取 TMS320DM6446AZWT （或您拥有的确切器件）、而不是通用 C64xx 或不同 DM644x 型号。 错误的器件拾取可能会导致错误的默认 IR 长度。
5. 检查扫描链中是否有多个器件
   ‑同一链上有其他 JTAG 器件（例如 FPGA、另一个处理器或测试 μ 接入端口）、则 IR 总长度为所有器件的总和。 ‑隔离 DM6446（通过断开其他支持 JTAG μ A 的器件）、以查看 IR 长度是否与预期的 4   位或 38 位匹配。
6. Re‑运行完整性测试
   进行任何更改后、对电路板下电上电、重新连接仿真器、然后重新运行 JTAG IR 完整性扫描。  一旦 IR 长度与硬件匹配、您应该会看到故障百分比显著下降（理想情况下为 0%）。

尊敬的 Fleenor：  

很抱歉、时间允许的时候、我已经进出了这个项目。  

2.我已经检查了.ccxml 文件,找不到路径长度 e2e.ti.com/.../NewTargetConfiguration.ccxml.txt的任何引用。

3.我在任何地方都找不到这个选项, 因为我知道调试会在连接测试中读取路径长度。  

4.我已确保设备选择正确。  

5.没有其他设备

6.我继续在目标配置设置中调整设置,但我无法接近。  

我不确定如何继续、这里宣传了 TSMDEMU200-U、它是 XDS510 的替代产品、我们提供了 1、运行良好。  

尊敬的 Jay-J：

感谢您坚持我并研究所有这些调试建议。 您是直接从 TI 购买此 EVM 的吗？

此致、

Zackary Fleenor