工具/软件:TI C/C++编译器
您好!
我使用的是 TSW14J56EVM 采样器。 采样器中填充了从光电探测器检索到的数据。 由于采样器的速度比从采样器检索数据时光电探测器所需的时间快得多、因此98%的检索数据不相关。 我的问题是、有办法"告诉"采样器何时开始停止采样? 我正在寻找一种将光电探测器与采样器同步的方法。
谢谢、
雅龙
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雅龙
您可能能够使用 TSW14J56EVM 的外部触发器功能。 有关这方面的信息、请参阅《HSDC Pro GUI 用户指南》的第3.1.3.3节。 您可以将此功能与自动化功能结合使用。 有关自动化功能的更多信息、请参见
C:\Program Files (86)\Texas Instruments\High Speed Data Converter Pro\HSDCPro Automation DLL
此致、
Jim
Jim、
是否有可能获得一个示例代码来将采样器设置为在 Y 时间周期内每 X 次启动?
当我查看提供的示例时、我不确定如何设置这些值:
打印"设置附加设备参数..."
ERR_Status = HSDC_Pro.Set_AdditionalFrquencyParametersForTwoTone (Enable、c_double (ADCOutputDatarate)、c_double (InputTargetFrequency)、c_double (InputTargetFrequency)、c_double (NCO)、c_double (抽取)、TimeoutTargetMS)
打印"错误状态="+ str (Err_Status)
什么是"InputTargetFrequency"或"SecondInputTargetFrequency"? X 和 Y? 我不确定。 是否有更详细的文档、以便我更好地了解其工作原理?
谢谢、
雅龙
您好、Jim、
我找到了自动化 DLL 手册。 我不确定、但我认为将采样器与光电探测器同步的方法是使用校准方法:
Int32_t 校准(char LanesToCalibrate[]、Int32_t 分辨率、Int32_t BitErrorValidationTimeInMS、Int32_t NumberofLanestoCalibrate、uint32_t AlignDelays[]、 int32_t CalculatedDelays[]、int32_t LanesCalibratedStringLen、char LanesCalibrated[]、int32_t TimeoutInMS)
第一个问题是、这是同步采样器所使用的方法?
如果是、其他信息将帮助我了解如何使用它。 本手册没有以我完全理解这一概念的方式进行解释。
例如、我要校准的通道是什么? 我知道我有两个通道、但我不熟悉通道概念。
雅龙
校准内容将与我们的 LVDS 器件一起使用。 这不会对您的案例执行任何操作。 请参阅随附的文档和随附的 示例样本触发代码.py 文件、了解可能的解决方案。
此致、
Jim
e2e.ti.com/.../Ext-Trigger-Automation.docxe2e.ti.com/.../Sample-Code-for-External-Trigger-Capture.py
雅龙
使用 自动重新启动触发器尝试以下几点。
HSDC Pro 中的 Trigger 选项可配置为“自动重新布防触发器”,以便为 在“EXT_TRG_INPUT"(TRG_IN)输入 SMA 引脚上发生的每个外部触发器捕获指定数量的样本。 当发生多个触发事件时,为每个触发事件捕获的相应数据将累积在 TSW14J56RevD 的 DDR 存储器中。 执行足够数量的捕获后、从 DDR 存储器捕获的所有数据样本都将加载到 HSDC 专业软件中。
2. 按照随附的“HSDC Pro - ADC 自动重新启动触发器用户流程.pptx”(随附)中提到的步骤,将 TSW14J56RevD 板设置为自动重新启动触发器模式,并在触发发生时捕获数据。 本文档还包含与自动重新 Arm 触发相关的自动化 API 函数。
3. 在以下位置添加随附的“ADS54J40_LMF_8224_Auto_ReArm.ini””,以便使用此“自动重新布防触发器”选项。 如果计划在其他 ADC 模式中使用相应的 ADC INIS、请更新以下参数
a. 接口名称="TSW14J56REVD_ADC_DDR_DAC_BRAM_256KB_Xcvr_firmware" à (参数已更新、因为此自动重新 Arm 触发器选项仅在 TSW14J56REVD_ADC_DDR_DAC_BRAM_256KB_Xcvr_firmware 中受支持)
b. JESD IP LMFC 重新对齐= 1 à(添加了参数、以便在执行自动重新 Arm 触发时增加确定性延迟)
添加“ADS54J40_LMF_8224_Auto_ReArm.ini”: C:\Program Files (x86)\Texas Instruments\High Speed Data Converter Pro\14J56revD Details\ADC”文件的位置
此致、
Jim
e2e.ti.com/.../HSDC-Pro-_2D00_-ADC-Auto-Re_2D00_arm-Trigger-User-Flow.pptxe2e.ti.com/.../ADS54J40_5F00_LMF_5F00_8224_5F00_Auto_5F00_ReArm.ini
您好、Jim、
首先、感谢您的详细解释。
我已按照您的说明操作、并立即开始使用新固件。
我全天都使用参数“样本数”、 “触发器数”和“触发延迟”。 我已经尝试过具有延迟或不具有延迟的不同组合。
我确实看到了一个差异、在某些组合中、记录了更多的脉冲、但并不是显著、我看到的是两个脉冲彼此接近(相隔5000个时钟)、而不是每20、000个时钟产生一个脉冲 然后、一个脉冲后为20000个时钟、然后在两个脉冲后为20000个时钟、依此类推。
您能否给出一个参数组合、以便我可以尝试提高脉冲密度?
或任何其他尝试的想法都将受到欢迎
谢谢、
雅龙
您好、Jim、
我们还运行了一些测试、但我们确实看到了微小的差异。 我们的脉冲速率为19600个时钟、在正常捕获中将每19、600个时钟获得一个脉冲(我附上了一个屏幕截图)。 这意味着、我们需要在样本数量较少后激活触发器。 系统现在允许您选择的最小样本数为4096个样本。 我们在采样率为4096、8192、16384时采集了一些样本、每次得到的结果相同、脉冲之间现在是16384、这是一个改进、但仍然有太多的空数据作为记录器。 如果可以将采样率降低到4096以下、我们可能会获得更好的密度。
我将附上我们测试中的所有屏幕截图、或许这有助于更好地了解我们的问题。
谢谢、
雅龙
雅龙
请参见随附的。
此致、
Jim
您好、Jim、
我已经尝试过该参数、但未获得正确的结果。
我运行了以下测试:
这意味着第二个触发器缩小了两个脉冲之间的距离。
第二项测试:
我正在尝试缩小所有脉冲之间的距离。 由于脉冲长度大约为2k 时钟、因此使用相同的逻辑、我已经将采样率设置为4K、期望每个触发器捕获一个脉冲、并且在下一个触发器触发后立即激活。 通过这种方式、我希望闭合脉冲之间的间隙。
我附加了具有4K 采样率和64个触发器的第二次测试的结果。 您可以看到、脉冲之间的间隙大小保持不变。 我还尝试了低至1K 的较小采样率、结果相同。
你好、Jim
我可能会遗漏一些东西、但这正是我尝试做的事情。
当我捕获2048/1048样本时、我看到一个脉冲。 我已将触发器设置为多次触发、而样本数量为1024/2048、但我会像以前那样在使用更大的样本大小时获得脉冲密度。
我出了什么问题?
请参阅随附的视频
雅龙
软件团队对您的示波器照片做出了回应:
我们观察到、ADC 捕获的脉冲(计算公式如下)与给出给 SMA 引脚的触发脉冲之间的时间周期彼此接近。 我们认为、这两个信号必须正确同步、以便触发脉冲恰好在输入脉冲之前发生。 除此之外,我们没有看到任何明显的问题。
ADC 捕获脉冲之间计算的时间周期= 19.714355us (根据客户的输入、采样频率= 983.04MHz、连续脉冲之间的样本数= 19380)
此致、
Jim
Jim、
时序测量不是精确提供的、 只是一种粗略测量、给出了时序的一般概念。
从根本上说、SMA 连接器上的触发器实际上是激光系统的触发器、激光系统进而生成 ADC 采样的模拟信号。
在我们的测试中、如果我们提供了要采集的16384个样本、看起来就像在工作。 尝试较低的值: 8192低至1024 (2的1024次幂)、我们仍然得到信号16384距离的捕捉。
这是我们目前遇到的主要问题。
谢谢、
雅龙
P.S.
Pro Data 转换器是否有新版本、几周前、您说它将在一个月内推出。