主题中讨论的其他器件： TMS320F28035
工具/软件：Code Composer Studio
你好。
此问题与前一个主题有关： 
解析前一个线程后、我可以成功地将 xds100v1程序安装到具有 FT2232D 芯片的 EEPROM 中。
在下一步中、我要验证 CCS 和基板之间的连接。
让我清楚地解释一下我的情况。
在设计中、TIDM-BIDIR-400-12、TI 提供了光绘文件、并 从 PCB 制造商处订购。
2.在得到空 PCB 后、 我用手焊接了组件。 我检查了所有连接点、没有问题。
3.我遇到了上面提到的问题，然后我解决了问题，最后我想检查 DSP 是否工作正常。
4.我想检查两个基于 xds100v2的外部 JTAG 仿真 器、以及没有基于与基板集成的 xds100v1的 JTAG 仿真器。
首先、我尝试在没有 JTAG 仿真器的情况下运行。 我断开了跳线 E：J2、由 TP10和 TP11供电。
6. E:LD1 (在基板中)被打开，LD1 (在 TMDSCNCD28035中 )也被打开。
7.在 Windows 设备管理器中、我可以看到 TI XDS100通道 A/B
8.在这种情况下，我运行 CCS，点击“调试”按钮，收到关于...的消息
连接到目标时出错：
(错误-1135 @ 0x0)
调试探针报告错误。 确认调试探针配置和连接、重置调试探针、然后重试此操作。
(仿真包6.0.407.3)
9.我尝试解决此错误，我可以找到 该页面：
10.在本页中，我可以找到以下短语：
与大多数其他错误不同、此问题仅在尝试使用 CCS 连接到目标时出现、但 测试连接 成功返回
11.因此我尝试检查并打开 TMS320F28035.ccxml 文件、运行测试连接按钮。 结果显示……
[开始：德州仪器 XDS100v1 USB 调试探针_0]
执行以下命令：
%CCS_base%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafil文件%-RV -o -F inform、logfile=yes -S pathlength -S integrity
[结果]
---- [打印电路板配置路径名]---------------
C：\Users\user\AppData\Local\TEXASI~1\CCS\
TI\0\BrdDat\testBoard.dat
---- [打印重置命令软件日志文件]-----------------
此实用程序已选择100或510类产品。
此实用程序将加载适配器'jioserdesusb.dll'。
图书馆的建造日期为"2016年7月27日"。
库构建时间为'18：31：37'。
库软件包版本为'6.0.407.3'。
库组件版本为'35.0.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为'4'(0x00000004)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。
---- [打印重置命令硬件日志文件]-----------------
扫描路径将通过切换 JTAG TRST 信号进行复位。
控制器是具有 USB 接口的 FTDI FT2232。
从控制器到目标的链路是直接的(不带电缆)。
该软件配置为 FTDI FT2232功能。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监控 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。
---- [用于从 PLL 生成的 JTAG TCLK 输出的日志文件]---
没有用于对 JTAG TCLK 频率进行编程的硬件。
---- [测量最终 JTAG TCLKR 输入的源和频率]----
没有用于测量 JTAG TCLK 频率的硬件。
---- [对 JTAG IR 和 DR 执行标准路径长度测试]-----
此路径长度测试使用64个32位字的块。
JTAG IR 指令路径长度测试失败。
JTAG IR 指令扫描路径卡在一个位置。
JTAG DR 旁路路径长度测试失败。
JTAG DR 旁路扫描路径卡在一个位置。
---- [对 JTAG IR 执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。
JTAG IR 完整性扫描测试失败。
---- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试]-----
此测试将使用64个32位字的块。
该测试将仅应用一次。
使用0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000执行测试。
测试2字0：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字1：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字2：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字3：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字4：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字5：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字6：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
测试2字7：扫描出0x00000000并扫描到0xFFFFFFFF。
已提供前8个错误的详细信息。
该实用程序现在将仅报告失败测试的计数。
扫描测试：2、跳过：0、失败：1
使用0xFE03E0E2执行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：2
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：3
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：4
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：5
一些值已损坏- 83.3%。
JTAG DR 完整性扫描测试失败。
[结束：德州仪器 XDS100v1 USB 调试探针_0]
12.我意识到即使我的测试连接也不能正常工作。
在调试 JTAG 网页中、提供了几个解决方案、无法帮助解决我的问题。
14.我找到了另一个线程、我尝试将 SW2引导更改为 sci 模式、并且也显示了相同的错误消息
15。我尝试断开跳线 J13、也会显示相同的错误消息。
可以帮助我解决这个问题吗？ 我应该从哪里开始解决这个问题。
谢谢
