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[参考译文] LP-XDS110ET:SC_ERR_PATH_BROKEN 错误--这意味着什么?如何解决?

Guru**** 2350610 points
Other Parts Discussed in Thread: LP-XDS110ET
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/tools/code-composer-studio-group/ccs/f/code-composer-studio-forum/1229935/lp-xds110et-sc_err_path_broken-error----what-does-it-mean-and-how-do-i-fix-it

器件型号:LP-XDS110ET

我在尝试使用 XDS200调试探针在 TI CCS 中调试代码时收到以下错误:

===================================================================

此仿真器不会创建复位日志文件。

-------- [出现错误且此实用程序已中止]--------

此错误由 TI 的 USCIF 驱动程序或实用程序生成。

值为'-233'(0xffffff17)。
标题为"SC_ERR_PATH_BROK"。

解释如下:
JTAG IR 和 DR 扫描路径无法循环位、它们可能会损坏。
尝试扫描 JTAG 扫描路径失败。
目标的 JTAG 扫描路径似乎已损坏
停留在1或停留在零故障的线性调频脉冲。

[结束:德州仪器 XDS2xx USB 调试探针]

===================================================================

我该怎么办? 是否有参考可帮助我对其进行调试?

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    您提到了两个不同的调试探针:LP-XDS110ET 和 XDS200。 您尝试调试的目标是什么? 也许提供您的设置的方框图草图?

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    尊敬的 Alex:

    实际上、我们在这里讨论的是什么目标器件?

    此致、

    Arthur