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器件型号：AFE4300EVM-PDK Thread：AFE4300中讨论的其他器件
工具与软件：
你好！
我希望你做得好。
我有关于 AFE4300的一些问题、我仅用于 BCM 测量。 我目前正在为 EIT 的 BCM 测量设计 PCB、已注意到 AFE4300数据表和 EVM 开发套件设计文件之间的差异。 您能帮助澄清一下这些差异吗？
此外、我需要帮助了解 BCM 的校准电阻器。
我遇到了一篇 开源学术文章 、其中讨论了如何将 AFE4300用于 EIT。 作者利用了 BCM 的所有 VSENSE 和 IOUT 通道、但在 EIT 测量周期中也使用了某些与校准相关的引脚/寄存器。 我的印象是、校准寄存器仅用于校准、而不是一般的 BCM 应用。 您能解释一下吗？ 具体来说、我指的是 ISW_MUX 寄存器(位[9：8]和[1：0])和 VSENSE_MUX (位[9：8]和[1：0])。
此外、使用输出 BCM 测量之间的区别是什么 OUTP_FILT/OUTM_FILT 和 OUTP_Q_FILT/OUTM_Q_FILT ？ 这些选项由控制 PERIPHERAL_SEL[4：0] 。 ADC_CONTROL_REGISTER2 . 我假设选择取决于 BCM 测量方法—您能否确认？
最后、为什么 AFE4300套件包含用于 VSENSE 的额外放大器电路？
我还有关于 AFE4300套件 IOUT 引脚电路的问题
感谢您的时间和帮助。
此致
Aidan
