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器件型号:ADS1299EEGFE-PDK 主题中讨论的其他器件:ADS1299
工具与软件:
大家好、团队成员:
ADS1299是否支持在单冲模式下生成测试信号? 如果是、请分享相关的应用手册。
请查找以下信息以供参考。
使用的平台:采用级联配置的带有 ADS1299的 ARM cortex MCU
测试情况1:
-------
在连续模式下、
-------
在连续模式下、
寄存器配置:
配置1寄存器:
DR[2:0]位:0b110 (Fmod / 4096 (250 SPS))
配置1寄存器:
DR[2:0]位:0b110 (Fmod / 4096 (250 SPS))
CONFIG 4寄存器:
SINGLE_SHOT 位:0b0 (连续模式)
SINGLE_SHOT 位:0b0 (连续模式)
CONFIG 2寄存器:
INT_CAL 位:0b1 (测试信号是内部生成的)
CAL_AMP 位:0b1 (2 ×–(VREFP–VREFN)/2400)
CAL_FREQ[1:0]位:0b01 (以 fCLK/2^20的频率发送脉冲)
INT_CAL 位:0b1 (测试信号是内部生成的)
CAL_AMP 位:0b1 (2 ×–(VREFP–VREFN)/2400)
CAL_FREQ[1:0]位:0b01 (以 fCLK/2^20的频率发送脉冲)
CHnSET 寄存器:(n = 1至8)
MUXn[2:0]位:0b101 (测试信号)
MUXn[2:0]位:0b101 (测试信号)
流量:
- MCU 发出 SDATAC 命令
- MCU 发送寄存器配置
- MCU 发出唤醒命令
- START 引脚被上拉
- MCU 发出 RDATAC 命令
-当 DRDY 为低电平时, MCU 获取测试信号数据
- MCU 发出 SDATAC 命令
- MCU 发送寄存器配置
- MCU 发出唤醒命令
- START 引脚被上拉
- MCU 发出 RDATAC 命令
-当 DRDY 为低电平时, MCU 获取测试信号数据
串行绘图仪输出:
观察到方波测试信号波形
观察到方波测试信号波形

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测试情况2:
-------
在单次模式下、
-------
在单次模式下、
寄存器配置:
配置1寄存器:
DR[2:0]位:0b000 (Fmod / 64 (16kSPS))
配置1寄存器:
DR[2:0]位:0b000 (Fmod / 64 (16kSPS))
CONFIG 4寄存器:
SINGLE_SHOT 位:0b1 (单次模式)
SINGLE_SHOT 位:0b1 (单次模式)
CONFIG 2寄存器:
INT_CAL 位:0b1 (测试信号是内部生成的)
CAL_AMP 位:0b1 (2 ×–(VREFP–VREFN)/2400)
CAL_FREQ[1:0]位:0b01 (以 fCLK/2^20的频率发送脉冲)
INT_CAL 位:0b1 (测试信号是内部生成的)
CAL_AMP 位:0b1 (2 ×–(VREFP–VREFN)/2400)
CAL_FREQ[1:0]位:0b01 (以 fCLK/2^20的频率发送脉冲)
CHnSET 寄存器:(n = 1至8)
MUXn[2:0]位:0b101 (测试信号)
MUXn[2:0]位:0b101 (测试信号)
流量:
- MCU 发出 SDATAC 命令
- MCU 发送寄存器配置
- MCU 发出唤醒命令
- MCU 将 PWM 信号(250 Hz 频率和50%占空比)发送到 START 引脚
-当 DRDY 为低电平时、MCU 发出 RDATA 命令以获取测试信号数据
- MCU 发出 SDATAC 命令
- MCU 发送寄存器配置
- MCU 发出唤醒命令
- MCU 将 PWM 信号(250 Hz 频率和50%占空比)发送到 START 引脚
-当 DRDY 为低电平时、MCU 发出 RDATA 命令以获取测试信号数据
串行绘图仪输出:
可观察到直流电平下的噪声波形
可观察到直流电平下的噪声波形

谢谢、此致
Ashwath