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[参考译文] ADS1299EEGFE-PDK:单冲模式下的 ADS1299测试信号生成问题

Guru**** 2382480 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS1299
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1483508/ads1299eegfe-pdk-ads1299-test-signal-generation-issue-in-single-shot-mode

器件型号:ADS1299EEGFE-PDK
主题中讨论的其他器件:ADS1299

工具与软件:

大家好、团队成员:
ADS1299是否支持在单冲模式下生成测试信号? 如果是、请分享相关的应用手册。
 
请查找以下信息以供参考。
 
使用的平台:采用级联配置的带有 ADS1299的 ARM cortex MCU
 
测试情况1:
-------
在连续模式下、
 
寄存器配置:
配置1寄存器:
DR[2:0]位:0b110 (Fmod / 4096 (250 SPS))
 
CONFIG 4寄存器:  
SINGLE_SHOT 位:0b0 (连续模式)
 
CONFIG 2寄存器:
INT_CAL 位:0b1 (测试信号是内部生成的)
CAL_AMP 位:0b1 (2 ×–(VREFP–VREFN)/2400)
CAL_FREQ[1:0]位:0b01 (以 fCLK/2^20的频率发送脉冲)
 
CHnSET 寄存器:(n = 1至8)
MUXn[2:0]位:0b101 (测试信号)
 
流量:
- MCU 发出 SDATAC 命令  
- MCU 发送寄存器配置  
- MCU 发出唤醒命令  
- START 引脚被上拉
- MCU 发出 RDATAC 命令  
-当 DRDY 为低电平时, MCU 获取测试信号数据
 
串行绘图仪输出:
观察到方波测试信号波形
 
--------------------------------------------------------
 
测试情况2:
-------
在单次模式下、
 
寄存器配置:
配置1寄存器:
DR[2:0]位:0b000 (Fmod / 64 (16kSPS))
 
CONFIG 4寄存器:  
SINGLE_SHOT 位:0b1 (单次模式)
 
CONFIG 2寄存器:
INT_CAL 位:0b1 (测试信号是内部生成的)
CAL_AMP 位:0b1 (2 ×–(VREFP–VREFN)/2400)
CAL_FREQ[1:0]位:0b01 (以 fCLK/2^20的频率发送脉冲)
 
CHnSET 寄存器:(n = 1至8)
MUXn[2:0]位:0b101 (测试信号)
 
流量:
- MCU 发出 SDATAC 命令  
- MCU 发送寄存器配置  
- MCU 发出唤醒命令  
- MCU 将 PWM 信号(250 Hz 频率和50%占空比)发送到 START 引脚  
-当 DRDY 为低电平时、MCU 发出 RDATA 命令以获取测试信号数据
 
串行绘图仪输出:
可观察到直流电平下的噪声波形
谢谢、此致  
Ashwath  
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Ashwath、您好!

    感谢您发帖。  

    对于单次触发和连续采样模式、测试信号的工作方式相同。 然而、由于数字滤波器的稳定要求、单次模式将有效数据速率降低1/4。  

    此致、

    Ryan