工具/软件:
您好:
我正在使用 具有单输入(DES 模式)的配置的 ADC12DL3200、并需要更改对哪个芯片输入进行采样 A 或 B
对 INPUT_MUX 寄存器(地址= 0x060)进行简单的写入似乎不足以切换输入、并且此操作的结果并不是
稳定、有时输入会改变、有时不会改变。 我阅读了所有数据表、但没有找到移动输入所需的特定过程。
是否有特定的程序来切换输入? 是否需要写入其他寄存器来更改输入?
提前感谢您
此致
GianPiero
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您好:
我正在使用 具有单输入(DES 模式)的配置的 ADC12DL3200、并需要更改对哪个芯片输入进行采样 A 或 B
对 INPUT_MUX 寄存器(地址= 0x060)进行简单的写入似乎不足以切换输入、并且此操作的结果并不是
稳定、有时输入会改变、有时不会改变。 我阅读了所有数据表、但没有找到移动输入所需的特定过程。
是否有特定的程序来切换输入? 是否需要写入其他寄存器来更改输入?
提前感谢您
此致
GianPiero
您好 Rob、
感谢您的支持、
我已经测试了您的解决方案并且可以正常工作(在0x60寄存器中、我们为输入 A 写入0x1、为输入 B 写入0x2、因为我在 DES 模式下工作)
仅适用于前台校准、 但问题是触发前台校准会导致校准数据复位并重新启动
校准过程需要很长时间 、而我的应用需要 在输入之间快速切换。
在反向校准中、序列不起作用、即使如您所示使用寄存器0x6c 触发校准、输入多路复用器也不会切换。
根据数据表、似乎可以在不重新启动校准的情况下切换输入。
是否有方法可以 切换保留最后校准数据的输入、而不重新启动新的校准过程?
我是否可以更详细地了解通过跳过校准过程的 SPI 加载校准数据的可能性?
是否可以通过 SPI 接口优化(写入少于673个值的数据)写入校准数据?
此致
GianPiero
您好 Gianpiero,
我听说过设计:
当 CAL_EN=1时、INPUT_MUX 寄存器实际上并不是要更改的。 应清除 CAL_EN、更改 INPUT_MUX、然后再次设置 CAL_EN=1。 很抱歉、很抱歉、数据表中未正确采集此数据。
校准引擎在校准序列中的特定点检查 INPUT_MUX 寄存器(然后对输入多路复用器、修整和一些其他信号进行配置)。 如果禁用后台校准并且前台校准已经开始(或完成)、则更改 INPUT_MUX 将导致不一致的行为。
此致、
Rob