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[参考译文] ADC3910D125:ADC3910 数据具有较大的神秘信号、即使输入短路也是如此

Guru**** 2358060 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC3910D125, THS4541, TPS6521905
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https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1527678/adc3910d125-adc3910-data-has-large-mysterious-signal-even-when-inputs-shorted

器件型号:ADC3910D125
Thread 中讨论的其他器件: THS4541TPS6521905

工具/软件:

我们对此感到困惑和沮丧。  ADC3910D125 会返回出现明显噪声的高频信号的数据、其中振幅约为 A/D 满量程值的 15%、而该信号应该显示一条有一些噪声的平坦线。  以下是详细信息:

  • 来自 THS4541 差分放大器的直流耦合差分信号与 ADC3910D125 评估板一样连接、不同之处在于输出是一个简单的单极滤波器((ADC 引脚上的差分对上有两个 27 欧姆电阻器和一个 22 pF 电容器)、我们的放大器具有更高的 4.75X 增益。
  • 来自 Xilinx FPGA 的 100MHz 采样时钟、直流耦合(我们的布局人员混乱并通过 ADC 而不是 FPGA 放置终端电阻,但信号看起来稳定)
  • 外部 REF35120 电压基准、Vref 引脚上连接到 ADC、电容为 10uF 和 0.1uF、NR 引脚上电容为 1uF
  • IOVDD 引脚 1.8V 电源上的 10、1 和 0.1uF 电容器、来自除 1.8V AVDD 之外的单独 LDO
  • 为 AVDD 电源引脚提供两个 0.1uF 电容器

我们已经验证了 FPGA 的数字接口与斜坡和反相 ADC 数据模式配合良好。  并且 DDR 总线上的两个通道在 FPGA 中正确地进行了多路信号分离。  我们使用逻辑分析仪来验证我们看到的数据实际上位于 ADC 的总线上。

我们看到的神秘信号始终是相同的振幅(在 10 位模式下约 160 个计数)、大致以我们期望的位置为中心。  我们可以通过 DAC 驱动 THS4541 差分输入的一个桥臂(差分对的另一侧是单端示波器输入,该输入在这些测试中接地)来施加输入偏移、并按预期提高和降低信号。  除了,我们会期望看到一条相对平坦的线有一点点噪音,而不是 160 计数的振幅!.

就得到这样的结果:即使我们在 ADC 引脚旁边的电容器上用焊锡 blob 对差分对进行短路、神秘信号仍然是相同的。  振幅没有变化。

在 100MHz 下采样时、一个电路板似乎具有有噪声的 2 –3MHz 信号、但我们认为这可能是混叠信号、因为当我们尝试来自 FPGA 的其他采样时钟 (110、90、80、70...) 我们可以看到更高的频率、但看起来像一个由大量噪声叠加的主粗正弦波。  在另一个 100MSPS 的电路板上、信号看起来更像 6MHz、但振幅也相同。

我们研究了 Vref、AVDD 和 IOVDD 线路(使用 200MHz 示波器,因此我们可能会错过一些东西)并看到一些噪声、但没有足够大或足够规律地解释我们在数据中看到的巨大信号。

我们的配置设置非常简单。  我们复位 ADC、然后将寄存器设置为使用外部电压基准、并在输出数据总线上切换到偏移二进制而不是二进制补码格式。  就是这样!  在二进制补码模式下、该信号仍然很明显、但其格式不同。  并且设置为使用内部电压基准不会有任何变化(尽管外部基准仍连接到引脚 17)。

我附上了 Excel 数据图。  正如我之前所说、即使我们短接差分输入、数据的幅度和形状也是相同的。  因此它会以某种方式在 ADC 内部生成。

请帮助!  我们无法解释为什么 ADC 似乎在生成我们在输入上看不到的数据中的该信号。

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    您好 Glen、

    很抱歉您的失望。 您能将您的原理图发送过来吗、我可以查看并了解可能首先发生的情况。

    谢谢、

    Rob

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    您好 Rob、

    以下是原理图的相关部分:

    我包括了模拟前端、但请记住、当 C17(A/D 输入对上的电容器)接地时、我们仍然可以看到信号。  第二个输入通道电路看起来与这相同。

    未显示 CH_A_OFFSET 信号、它来自设置–250 至+250mV 直流失调电压的 DAC 和放大器。  如果电容器没有短路、那么改变失调电压确实会使信号的中心从 ADC 向上和向下移动、但它仍然有不需要的信号位于顶部。

    AVDD18 和 IOVDD18 来自作为 PMIC 芯片一部分的单独 LDO、TPS6521905 如下所示:

    我们最初认为、降压开关噪声可能进入了 LDO 输出中。  但它们看起来非常干净、模拟电路位于电路板的另一端、您可以在其他原理图页面中看到本地旁路电容器。

    Glen

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    我们做了一个有趣的发现,但无法解释。  如果我们将 DEV_CFG_4(地址 0x30B)寄存器的位 5 设置为单端模式、那么神秘信号会消失、数据看起来像我们预期的那样。  我们检查了正弦,斜坡和方波,现在一切工作.

    但这与硬件没有变化、硬件显然是向 VCM 中心的 ADC 发送差分信号、而不是像数据表中所示、VCM 和 INxM 引脚上的固定 VCM 造成的信号端信号偏移。

    为什么差分信号在单端模式设置下可以正常工作、而在默认差分设置下无法正常工作???

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    您好 Glen、

    有意思。 可以从模拟输入中移除 D5 和 D6 吗? 您可能会夹紧输入太困难、并且过渡到单端可以减轻这一负担。

    在 diff 模式下会发生什么情况、信号是静态的还是非常小?

    此致、

    Rob

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    您好 Rob、

    我之前想过 D5/D6 钳位、但我们在尝试弄清楚这一点时几乎所有的测试都是输入接地或由 AWG 馈送 0 直流电压、从而没有差分信号、只有来自 TDA 的一些噪声。  我们甚至到目前为止在 C17 上放了一个焊点、以确保差分输入短路、并且仍然看到了疯狂的信号。  这是太糟糕了,我们已经停止使用 AWG,一个星期前,因为信号几乎不可见通过额外的高频信号 A/D 似乎添加.  直到我们将该位翻转为单端 、在没有信号表明我们再次开始将 AWG 馈送到板中时、才能够看到一条平坦的线。

    您在我的原始帖子中看到的信号图都是在没有信号的情况下拍摄的。  因此、您在图中看到的所有视在信号都是在 A/D 中生成的  我们在输入线上看到的噪声非常小、而且没有差分信号。

    数据表几乎似乎可能反转了该位的逻辑、它在单端设置下的工作效果要好得多。  您能解释一下这个位的实际作用吗?  从数据表原理图示例中可以看出、它仍然可以计算两个引脚之间的差异、但在单端模式下、负引脚应保持在 VCM。  内部有哪些变化?  如果该位反转、而负引脚在真正的单端模式下上升和下降、这会导致问题吗?

    Glen

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    您好 Glen、

    感谢您的详细信息、让我明天在实验室中进行设置、看看我能找到什么。

    我明天会联系您。

    同时、您能否发送仅适用于 ADC 的 SPI 写入配置?

    谢谢、

    Rob

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    我很欣赏 Rob、期待听到您的发现!  下面是我们当前的设置:

    • 通过 RESET 引脚执行硬件复位
    • 通过轮询寄存器 0x38 (CFG_ALERT) 等待复位完成
    • 写入并读取暂存区 SPARE_REG 寄存器 0x39、以验证 SPI 总线是否与 ADC 正确通信
    • 将 DEV_CFG_3 寄存器 0x8d 的位 1 转至高电平然后转至低电平可切换 ALERT 输出引脚、并确认我们的 MCU 可以看到该引脚并已连接
    • 设置 DEV_CFG_3 @0x8d 的位 6 以按 FPGA 的预期在数据总线上设置偏移二进制格式(而非二进制补码)
    • 如果使用数字功能、则设置 BUFF_CURR @0x30A 的位 6 以设置偏移二进制格式
    • 设置 DEV_CFG_4 @0x30b 的位 6 以选择外部 Vref(REF35120 芯片)
    • 设置 DIG_INPUT_CFG @0x307 的位 4 以禁用 DCLKZ 输出。  我们的 FPGA 只需要 DCLK 时钟
    • 将 DEV_CFG_4 @0x30b 的位 5 设置为单端输入模式、而不是差分<----- 这是什么解决问题,奇怪的

    就是这样。  除非我们要写入整个寄存器、否则我们使用 READ_MODIFY_WRITE 例程只更改相关的位、以防某些保留或无文档记载的位执行某些操作。

    一条新信息是 0x30b 位 5 模式位设置为单端的输入刻度。  尽管我们有差分信号、而不是 INxM 引脚上的固定 VCM 电平、但 A/D 调节在差分设置中看起来是正常的。  我们的 THS4541 FDA 配置为 4.75 增益。  这意味着、+/–200mV (400mVp-p) 信号会在 ADC 差分输入引脚处变为+/–950mV (1.9Vp-p) 信号。  我们以+/–200mV(400mVp-p,以零为中心)的正弦波进行馈送、A/D 将其转换为满 10 位标度、由于偏移很小、一端几乎没有削波。  将振幅减小到其一半、模数转换显示的正弦波为 A/D 满量程的 1/4 至 3/4。  我本来以为如果这个位真的是单端的,比例将调整 2 倍,以仅考虑到差分对的一端移动+/–475 mV ,或仅 950 mV 的跨度。  但事实并非如此。  还有一条让我认为该位的功能与数据表所述相反的线索。

    Glen

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    顺便说一下、您提到了我们必须保护模数输入的二极管钳位。  放大器具有 3.3V 电源、而 ADC 具有 1.8V 电源、因此输入可能会超过数据表中的 2.1V 限制。  但我注意到、您的评估板具有相同的放大器和电源电压、但没有钳位。  只要有直列式电阻器并限制任何电流进入 ADC 芯片的内部钳位、是否不需要这些钳位?  由于我们的输入信号来自外部、因此我们无法保证信号不会超出预期范围。  但如果我们去掉钳位、那会很好。

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    您好 Glen、

    在模拟输入端放置二极管钳位会影响频谱性能、如果这是时域应用、那么您可能没有问题。 这就是为什么我要求删除它们以确保它们不会添加到问题中。

    找到合适的二极管钳位可能是一项挑战、以下几项我知道效果很好。

    RB851Y

    DLM-10SM

    SMS7621

    有些客户会率先推出放大器、这是另一个想法。

    确保所需的模拟输入不会过大应力、从而避免超出绝对最大额定值。 随着时间的推移、这将会减小器件。

    此致、

    Rob

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    您好 Glen、

    我知道 ADC 模拟输入端的 SE 与 DIFF 是什么问题...以及为什么您看到性能良好而不是在 DIFF 模式下。

    放大器范围很广、共模电压与 ADC 的模拟输入不符。 所以、实际情况是模拟输入上差分的一侧超出范围、而另一侧则不然。

    这种情况的发生方式是、您使用的放大器 THS4541 没有正确设置。 至少根据所示的原理图、可以按照原理图使用单端接口。

    这不正确。 为了在此放大器上从 SE 输入转换至 DIFF 输出、您需要正确地对其进行平衡。 因此、两侧模拟输入端的共模电压相等、两个输入端均为 1.275V(根据 ADC 数据表)。

    为此、请改为以这种方式配置放大器。 请参阅下面的

    您还可以使用此 TI FDA 计算器工具帮助显示从 SE 转到 DIFF 所需的正确配置和电阻器。

    请参阅链接: www.ti.com/.../01.00.00.00

    另一项您可以做的测试是完全不应用任何信号。 然后使用 DMM 在 C17 的任一侧进行测量。 任一侧的电压应相等、并且应为 1.275V 或非常接近于该值。

    此致、

    Rob

    PS — 我在工作台上证明了这一点,今天在实验室中向我们的其他应用工程师展示了这一点。

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    您好 Rob、

    非常感谢您在实验室的时间,并发送 FDA 计算器。  但恐怕它只能确认我们的设置和对范围的手动计算 是正确的。

    我一定没有正确传达我们的输入信号、但它们与您在模型中所做的假设不同:

    • 顶部的输入信号范围为+/- 200mV 或 0.4Vpp、而不是 1V。  我们有继电器可切换衰减器来确保输入振幅保持在该范围内
    • 4.75 增益旨在将 0.4Vpp 范围放大到模数转换器输入的 1.9V 差分范围
    • 下桥臂由 DAC 和放大器驱动、以提供+/–250mV 的失调电压范围。  目的是将该信号与顶部的输入信号中心相匹配、使<400mVpp 信号处于 A/D 范围内、即将差分输出置于零中心

    当我在计算器中输入这些数字时、没有超量程。  当我探测电路时、我得到的读数与模型预测的读数相同:

    • 当顶部具有直流 0V 输入 (Vs) 和零失调电压 (Vinn) 时、C17 任一侧的电压都非常接近 1.275V
    • Vs 处为 100mV 时、差分对扩展约为 1.275 +/- 0.25、因此信号为 0.50、接近于我预期的 0.475
    • Vs 处为 200mV 时、C17 处的对读数为 1.275 +/- 0.49、因此产生 0.98V 信号、位超出 A/D 的最大 0.95 限值、但很接近
    • 在–100mV 和–200mV 下、I 得到的值大致相同、但按预期相反、A/D 产生的最大负信号约为–0.95V、以 Vcm 为中心
    • 如果我在模型中将 Vinn 的偏移设置为高达+/–250mV、并移动 Vs_dc 以匹配(因此偏移与 0.4Vpp 信号的中心匹配)、则如果 Vs_ac 为 0.4Vpp 或更低、则偏移抵消、差分信号相同
    • 在失调电压 (+/- 250mV) 和信号振幅 (<= 400mVpp) 的整个范围内、该模型不会指示任何超量程、物理电路也正常工作

    因此、似乎我们确实在以 VCM 为中心馈送差分信号、而不是超范围。  所以我仍然不明白为什么我们将 A/D 设置为单端模式时才起作用、以及为什么调节(伏特至 ADC)计数与我们为差模信号计算的值相匹配。

    以下是为了匹配我们的电路和信号而设置的 FDA 计算器:

    ...和最大偏移:

    你怎么看?

    Glen

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    您好 Glen、

    如果您正在读取正确的共模电压、则 FPGA 中有某器件正在处理数据。

    您捕获的格式是否正确? 2 补码(默认)与偏移二进制?

    此外、请发送您正在使用配置器件的 SPI 写入列表。 有时序列是特定的。

    因此、发送您正在使用的序列。

    此致、

    Rob

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    您好 Rob、

    我们正在 C17 的 A/D 输入端读取正确的共模电压(使用示波器或电压表)。  在施加信号时、差分对信号会高于和低于共模电压、差异为我们的计算量和 THS4541 模型预测的值。

    我们使用了 FPGA 的 ILA(逻辑分析仪)功能来嗅探来自 A/D 的数据  在差分输入模式的默认配置(根据数据表)下、数据会一直跳跃、但当设置为单端模式时、数据看起来与差分模式的数据完全相同。

    我们以偏移二进制格式捕获、因为这就是我们 FPGA 设计的预期方式。  但是、当我们将其保留为二进制补码模式时、适用与差分模式位相同的视在反转。  将其清除(差分模式)后、转换后的数据会一直跳转、在设置(据称是单端模式)时、数据是正确的、同时 考虑到 不同的二进制补码格式。

    这些寄存器按照我之前发送的顺序进行设置。  我在这里重复一下:

    • 通过 RESET 引脚执行硬件复位
    • 通过轮询寄存器 0x38 (CFG_ALERT) 等待复位完成
    • 写入并读取暂存区 SPARE_REG 寄存器 0x39、以验证 SPI 总线是否与 ADC 正确通信
    • 将 DEV_CFG_3 寄存器 0x8d 的位 1 转至高电平然后转至低电平可切换 ALERT 输出引脚、并确认我们的 MCU 可以看到该引脚并已连接
    • 设置 DEV_CFG_3 @0x8d 的位 6 以按 FPGA 的预期在数据总线上设置偏移二进制格式(而非二进制补码)
    • 如果使用数字功能、则设置 BUFF_CURR @0x30A 的位 6 以设置偏移二进制格式
    • 设置 DEV_CFG_4 @0x30b 的位 6 以选择外部 Vref(REF35120 芯片)
    • 设置 DIG_INPUT_CFG @0x307 的位 4 以禁用 DCLKZ 输出。  我们的 FPGA 只需要 DCLK 时钟
    • 将 DEV_CFG_4 @0x30b 的位 5 设置为单端输入模式、而不是差分<----- 这是什么解决问题,奇怪的

    谢谢、

    Glen

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    谢谢 Glen、

    通常、客户会发送一个小的 txt 文件、只是想确保没有配置任何其他文件、等等

    我们将执行与您相同的操作、看看会发生什么。

    我将在今天晚些时候或明天清晨回来。

    谢谢、

    Rob

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    确保没有其他任何配置、或者可能我们遇到了一些错误或问题、这是一个很好的要点。  这是配置 A/D 的 C 代码  read_modify_write 参数包括 (reg_addr、第一位、bit_field_len、data to write):

        // Note: The ADC reset is done by the FPGA, so its SPI must be init first
        err = adc_reset(true);
        if (err) {
            return -ETIMEDOUT;
        }
    
        // Write the SPARE_REG (this returns an error if the readback doesn't match)
        k_sleep(K_MSEC(50));
        if (adc_spi_write(ADC_SPARE_REG, 0xA5)) {
            LOG_ERR("Error writing/reading to ADC SPI");
            err = -ECOMM;
        }
        // TODO: Turn this into a hardware self-test item
        LOG_DBG("ADC_ALERT = %d", adc_alert_is_active());
        LOG_DBG("Flipping polarity of ADC_ALERT to test signal input");
        adc_read_modify_write(ADC_DEV_CFG_3, 1, 1, 1);
        LOG_DBG("ADC_ALERT = %d", adc_alert_is_active());
        adc_read_modify_write(ADC_DEV_CFG_3, 1, 1, 0);
    
        // Offset binary output format when ADC digital features are bypassed
        adc_read_modify_write(ADC_DEV_CFG_3, 6, 1, 1);
        // Offset binary output format when ADC digital features are used
        adc_read_modify_write(ADC_BUF_CURR, 6, 1, 1);
        adc_read_modify_write(ADC_DEV_CFG_4, 6, 1, 1);  // external Vref
        adc_read_modify_write(ADC_DIG_INPUT_CFG, 4, 1, 1);  // disable DCLKZ output.  We aren't using it
    
        // TODO: Keep this single ended setting?  Why does this work?  Is the datasheet wrong about this bit?
        adc_read_modify_write(ADC_DEV_CFG_4, 5, 1, 1);
    

    以下是寄存器地址的定义:

    // ADC defines
    #define ADC_RESET_REG   0       /* 0x80 to reset */
    #define ADC_CFG_ALERT   0x38    /* Returns 0 when device is ready to configure after reset */
    #define ADC_SPARE_REG   0x39    /* No function, use for read/write testing */
    #define ADC_DEV_CFG_1   0x88
    #define ADC_DEV_CFG_2   0x89
    #define ADC_CLK_CFG_1   0x8a
    #define ADC_CLK_CFG_2   0x8b
    #define ADC_PDN_CFG     0x8c
    #define ADC_DEV_CFG_3   0x8d
    #define ADC_CLK_CFG_3   0x8e
    #define ADC_CLK_CFG_4   0x8f
    #define ADC_PIN_CFG_1   0x90
    #define ADC_TEST_PATT_CFG       0x91
    #define ADC_TEST_PATT_CHB_7     0x92
    #define ADC_TEST_PATT_CHB_13    0x93
    #define ADC_TEST_PATT_CHA_7     0x94
    #define ADC_TEST_PATT_CHA_13    0x95
    #define ADC_GLOBAL_PDN          0x97
    #define ADC_INTERFACE_CFG_1     0x98
    #define ADC_INTERFACE_CFG_2     0x9C
    #define ADC_HFSB_FPDN_CFG       0x9E
    
    #define ADC_DIG_PAT_ENA         0xA1
    #define ADC_DIG_PATTERN_CHA_7   0xA2
    #define ADC_DIG_PATTERN_CHA_15  0xA3
    #define ADC_DIG_PATTERN_CHB_7   0xA4
    #define ADC_DIG_PATTERN_CHB_15  0xA5
    #define ADC_INTERFACE_CFG_4     0xA6
    
    #define ADC_DIG_INPUT_CFG   0x307   /* DCLKZ disable, disable data inputs to digital blocks */
    #define ADC_BUF_CURR        0x30a   /* Dig feature output format, gain tracking across temp */
    #define ADC_DEV_CFG_4       0x30b   /* voltage ref, half speed, 10/8 bit resolution */
    #define ADC_GBL_CLK_CFG_1   0x484   /* global clock enable for digital block */
    #define ADC_GBL_CLK_CFG_2   0x4be   /* specific clocks for decimation, stats, etc. */
    #define ADC_GBL_CLK_CFG_3   0x4bf   /* enable clock to digital output */
    

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    您好 Glen、

    今晚、我们在实验中做了一些工作、发现使用外部基准是导致问题的原因。

    您能否在您的最终验证这一点?

    请删除寄存器的两个设置、同时确保外部基准已断电或与 VREF 引脚断开。

    在此期间、我将讨论设计、以便了解发生了什么。 数据表发布中可能遗漏了另一个寄存器设置。

    我明天会更新你。

    此致、

    Rob

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    您好 Rob、

    根据您的请求、我尝试断开外部基准并将寄存器设置为使用内部基准。  该行为仍然相同、神秘信号(如果设置为差分模式)和设置单端模式的正常运行。

    我们在 A/D 附近放置了一个零欧姆电阻、以便轻松断开外部基准、因此我们可以比较外部与内部。  我尝试了 Vref 输入引脚悬空并接地的实验、结果是相同的。

    当外部基准断开连接时、我看到的唯一区别是转换数据看起来噪音更大。

    仍然是个谜!

    Glen

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    您好 Glen、

    好的、感谢您的检查。

    我们来离线处理。  

    我将关闭此帖子并向您发送电子邮件。 请留意我的电子邮件。

    此致、

    Rob