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[参考译文] AFE5818:在测试模式数据下、DCLK 波形和数据不正确

Guru**** 2489685 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1547080/afe5818-in-the-test-mode-data-the-dclk-waveform-and-data-are-incorrect

部件号:AFE5818


工具/软件:

尊敬的专家:

只配置了以下寄存器、可以执行测试模式、但我使用 FPGA 的 ILA 测试显示它与我预期的不匹配
24'h01_0014
24'h02_8000
24'h04_0010

我执行复位并等待 100ns、通过 SPI 写入的数据正常读回、配置完成后、数据的前八个通道和 Fclk 时钟不正确、您认为是否会存在其他问题?
如果尽快答复、我将不胜感激。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、

     图像不清晰。  

    是否正在尝试在 FCLK 上强制测试模式?