工具/软件:
尊敬的 Keith:
我的客户执行了您建议的更改、 应用您建议的 24→32 符号扩展方法、结果得到了改进。
下面是一个比较表、显示了 TINA 仿真电压、之前解码的电压(24 位 ADC 结果被误解时)
新电压(使用适当的二进制补码符号扩展)。 它包含偏差(计算值−TINA)、因此您可以看到变化。
|
ST= ADS1231_ReadRawData (&PINS、&adcdata_out、500,1000); |
||||||||
|
Sl 编号 |
电阻器网络 |
TINA (µV μ A) |
上一个计数(类型) |
上一电压 (µV) |
µV 偏差(μ V) |
新计数(类型) |
新电压 (µV) |
新 µV(μ V) |
|
1. |
820k/ 10Ω/ 200k |
88.2. |
50,634 (uint32_t) |
77.773824 |
−10.426176 |
53,702 (int32_t) |
82.486272. |
−5.713728 |
|
2. |
820k/ 6.8Ω/ 200k |
60 |
30,840 (uint32_t) |
47.37024 |
−12.629760 |
34,183 (int32_t) |
52.505088 |
−7.494912 |
|
3. |
820k/ 1Ω/ 200k |
8.8. |
4,294,965,869 (uint32_t) |
6,597,067.57 |
6,597,058.77 |
1365 (int32_t) |
2.09664 |
−6.703360 |
|
4. |
820k/ 18Ω/ 200k |
158.82. |
98,376 (uint32_t) |
151.105536 |
−7.714464 |
100,870 (int32_t) |
154.93632 |
|
最低有效位 (LSB) 具有更完整稳定输入的完整转换、权重为 (0.5*3.3)/128/(2^23 - 1)= 1.536nV:对于 Vref = 3.3V
简短分析:
他们仍然看到小的残余偏差约为几 µV。
您~分享一下它们是否最有可能与 ADS1231 的失调电压 (µV 10 μ V)、电阻容差或接线/接地影响有关?
或
您是否认为通常在执行适当的系统级失调电压和增益校准时会解决这些问题?
您还可以查看他们的完整代码、读取/转换流程并针对以下方面提供建议/参考例程吗?
- 读取/转换例程
- 最佳实践 ADS1231 读取例程。
- 24→32 符号扩展的安全方法
- 确认规范方法和需要注意的任何临界情况。
- 皮重处理
- 用于捕获/存储皮重计数的推荐方法(平均方法,如果需要,持久性,原子更新以避免发生色谱)。
- 工厂校准(偏移和增益/范围)
请~生产校准流程来校正失调电压 (µV 10 μ V) 和增益误差(单点或两点)、建议的平均值数量、电阻容差建议、并请共享上述所有相关示例代码并在固件中应用校准常数。
