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[参考译文] ADS4145:ADS4145 SPI 写入问题:测试模式 0 未按预期输出

Guru**** 2533570 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS4145

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1565979/ads4145-ads4145-spi-write-issue-test-pattern-0-not-outputting-as-expected

部件号:ADS4145


工具/软件:

您好:

我正在使用 ADS4145、并通过 SPI 接口对其进行配置。
根据数据表、写作 地址= 0x25、数据= 0x01 应将 ADC 测试图形设置为零。

但是、当我执行这种写入操作时、输出不为零、我仍然会在 ADC 输出端观察到不同的值。

我使用示波器捕获了 SPI 信号(请参阅随附的图)。

  • 黄色 (C1):传感器

  • 绿色 (C2):SCLK

  • 橙色 (C3):SDATA

  • 蓝色 (C4):未连接(未使用的通道)

我似乎正在正确发送 16 位序列(8 位地址、后跟 8 位数据,在下降沿锁存)。 不过、ADC 不输出零。

此外、我使用 FPGA 内的 ILA 监控 ADC 数据总线(请参阅第二个随附的捕获)。 捕获的值继续显示非零随机类数据、而不是预期的全零测试模式。

作为参考、 DFS 引脚硬接线到 CMOS 偏移二进制模式 达到额定功率。

请确认:

  1. IF 寄存器 0x25 = 0x01 用于强制执行零测试模式的设置是否确实正确?

  2. 根据示波器捕获、我的 SPI 序列(时序,SEN,时钟数)看起来是否正确?

  3. 在启用零测试模式之前、是否需要执行任何其他配置步骤?

非常感谢您的支持。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我找到了原因。 当寄存器时 0x42 、第 3 位(低延时模式)启用、数字功能禁用、因此不生成测试模式。 问题现已解决。