[参考译文] ADS131M08：内部电压基准偏移跟踪

尊敬的 Brett：

我无法在您的帖子中打开链接、但我想您是指 ADS131M08 上的内部 Vref。 请参阅以下设计说明：

在 REFIN 引脚上测量的典型内部电压基准值将接近 1.18V、如图 6-29 数据表图所示。  不过、对基准电压应用了内部调节、因此满量程输入范围将为+/–1.2V/增益、而这个校正后的电压的精度典型值为+/–0.1%、温漂典型值为 8ppm/C、如数据表规格所示。

• 使用内部基准时、应用的典型数字比例因子为 1.2V/1.18V=1.017、但该值会因 每个器件内部基准的实际值而略有不同。  
• 使用外部基准选项时、采用 0.96 的固定数字比例因子、这样标准 1.25V 外部基准电压仍将产生+/–1.2V/增益的满量程输入范围。

我希望这有助于消除 您的困惑。

BR、

Dale

早上好。

最初文章讨论了在单位级 EFT 和 ESD 测试期间及之后观察到 IC 内部 VREF 的误差。 OP 表示、他们观察到在测试完成后 VREF 上持续存在大于 5%的误差、这需要重新启动器件才能修复。 不太确定重启意味着什么，但不幸的是 — 软启动或硬启动。

Cole Macias 回答道：“这是一个有趣的测试结果、如果他们有任何建议、我必须与团队沟通。“ 以及其他观察结果。 但没有再就这一议题进行公开对话。

工程团队是否有关于可能导致这种故障模式或类似故障模式（（Vref 在某些事件后超出容差范围）的已知事件的任何说明？ 在可能的情况下,我们至少可以监测此类事件,并尝试在没有人工干预的情况下,通过一项解决方案使 Vref 恢复到容忍状态。

问题与 OPS 测试有关。

我真正需要关注的是、在数据表之外、是否有任何与该器件相关的工程手册表明 Vref 在特定事件后的持续变化。 Vibe、Hock、EFT、ESD、温度冲击（数据表未列出型号）。 OP 已注意到一个实例、是否已有更多内部文档？

在我们自己的系统级停止 RCA 期间尝试不重塑充电过程。 例如、如果我们注意到在停止运行期间出现意外的测量漂移尖峰、但采集链中的元件现有已知的故障模式、则找出故障元件将明显更简单。

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