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器件型号： ADC12DJ3200
尊敬的 Texas Instruments 支持团队：
我希望此消息能帮您找到答案。
我们设计了您的 5962F1820901VYF (ADC12DJ3200QML‑SP) 器件、供客户在航空航天应用中使用。
据‑、此器件被归类为 QMLV 产品、因此需遵守 MIL‑STD‑883 筛选测试第 17 号、该测试要求 X 射线检查 (TM2012) 和声学显微镜检查 (TM2030)。
请参阅随附的 prf38535 .pdfMIL‑PRF‑38535 文档第 23 页、其中规定了这些要求。
我们谨要求对以下几点作出澄清：
1.确认筛查执行您是否要确认是否按照 MIL‑STD‑883 筛查测试编号 17 (TM2030) 的要求,在标准 QMLV 筛查过程中对 5962F1820901VYF 设备执行了 C‑SAM（声学显微镜）检查?
2.样本数据请求
如果进行声学显微镜检查、您是否可以提供：
代表性 C‑SAM 检查样本（图像或汇总数据）？
我们已经查看了可用的产品 一致性报告 (PCR) 文档、但未找到任何 C‑SAM 检查结果。
非常感谢您的支持和及时的回应。
