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[参考译文] DAC121S101QML-SP:DAC121S101 处于最大速率 SCLK 20MHz

Guru**** 2837190 points

Other Parts Discussed in Thread: DAC121S101

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1626641/dac121s101qml-sp-dac121s101-at-max-rate-sclk-20mhz

器件型号: DAC121S101QML-SP
Thread 中讨论的其他器件: DAC121S101

您好 TI 支持团队:

在我们的一个航天设备应用中、我们在其数据表中的最大 20MHz SCLK 中使用了 DAC121S101。

此 20MHz 由 80MHz 主时钟(在 FPGA 内部)生成、从而在 SCLK 信号上产生 50%的占空比(高电平时间)。

我们理论上仅以 DAC 数据表中有关 SCLK 周期时间的限制为依据、我们期望它完全正常工作。

但我们还必须考虑 80MHz 的潜在微小变化/精度不高。 因此、在最坏的情况下、SlCK 周期上的时序裕度会略微变为负值。

在确定此组件的最大速率时是否考虑了这种 SCLK 不精确度?

此致、

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    Jokin、


    大家可能知道、我们在数据表第 7 页的“电气特性“表中将此规格列为最大规格:

    在上面显示的子组列中、这些规格在数据表第 8 页的表 1 中列为 9、10 和 11:

    因此、该 规格扩展到+25°C、125°C 和–55°C 的开关测试。

    我不确定超出 20MHz 限制的确切测试和表征。 基于电气特性表中的最大额定值、我不会违反规格。 我认为没有任何时序裕量来获得更快的 SCLK 信号。


    Joseph Wu

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    您好、Joseph。

    感谢您的快速答复。

    它不是完全回答我的问题、但在某种程度上是预期的问题。 如果您无法在 SCLK 频率的鉴定测试条件中向我们提供更多信息、我们可能必须使用它。

    需要明确的一点是:在这个项目案例中、我们并不是故意违反规范。 但是、我们打算以其最大规格(对于 SlCK 频率)驱动元件。

    正因为如此,工作条件的任何微小变化都可以理论上导致负利润率(我的预期只有几 ppm ,但它们可以是负的)。

    我们想知道组件的鉴定阈值是否高于规定的阈值、与我们在设备鉴定级别所做的相同。

    设备将接受鉴定测试(包括阈值超过项目指定阈值的温度测试)。 这项测试本身就可以在设备上提供小变化方面的良好信任。 我要求在组件层面提供更多的信息、以了解我们是否能够获得比这更多的信任。

    如果你终于碰巧能够分享更多的信息,我会非常感谢。

    如果没有、无论如何、谢谢。

    此致、

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    Jokin、


    我很抱歉,但我不确定我还有更多要补充的东西。 作为背景信息、此器件由美国国家半导体公司开发、 早于 Texas Instruments 收购日期。 我没有看到任何有关 SCLK 速率限定的信息。

    我需要注意的是、在原始数据表中、用于在脚注“此参数由设计和/或特性保证、而不在生产中进行测试“的 SCLK 最大频率。 但是、 正如我在上面所示、质量合格检验表(在–55°C、25°C 和 125°C 下)中现在涵盖了此参数。 因此、我想 20MHz 中列出的原始 SCLK 最大值规格部分基于模型偏斜的时序仿真、因此可能有一些与最大值相关的容差。 然而、我想与质量合格检验相关的测试是使用 20MHz 时钟进行测试(我认为这是针对特定样本大小的批量测试 — 我不是很熟悉 MIL-STD 测试)。


    Joseph Wu