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[参考译文] ADC3669:关于:采样率更高的数据转换器问题

Guru**** 2905440 points

Other Parts Discussed in Thread: ADC3669, ADC3669EVM

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1638098/adc3669-re-data-converter-issue-with-hgher-sampling-rate

器件型号: ADC3669

尊敬的团队:

我最近购买了用于项目应用的 ADC3669 IC。 我必须在 LVDS 模式下以 480MHz 采样率、双通道运行 ADC。  ADC 在高达 150MHz 的采样率下表现良好、我确认馈送到 ADC 的输入音调也很好、并在我的 FPGA (Artix 7) 侧使用 ILA 进行了验证。

但是、当我将采样率从 150Mhz 提高到 480MHz 或其他超过 150MHz 时 、使用 ILA 捕获的输入不好、并显示我的 ILA 中可以看到的特定边沿处的纹波。 如果我更改了采样率、偶数通道正在通过 SPI 进行交换、而无需任何寄存器更改。

您能否提出任何修改或建议来纠正此问题?

 

ILA_DATA_480Mhz.jpg

 

 

 

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    您好:

    请提供原理图和寄存器配置。 ADC3669EVM 上是否显示了这种行为? 您能否在输入音调上放置频谱分析仪并在此处分享结果? 我想验证输入音调是否清晰。

    此致、

    Mike Emanuel

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    您好:

    我们需要更多信息来验证问题。 您是否尝试过使用 HSDC Pro 在这两种情况下重建频谱? 输入频谱是什么样子的?

    此致、

    Mike Emanuel

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    感谢您的答复、

    我解决了 IDEALYE2 基元的问题、该基元有助于延迟数据线、以便在数据位的眼图中心进行采样。

    现在、我想配置具有双频带、16 位分辨率的实数和 2 倍抽取率的 ADC、并需要使用 NCO 乘法将信号转换为基带。 根据配置、数据在 8 个通道中到达、并在 LSB 位中观察到 fclk。 但预期的基带信号不是从 ADC 到达、而是获取馈送到芯片的实际射频信号。 目前、我们正在进行 120MHz 的采样率、输入 IF 为 11MHz、NCO 频率为 10MHz。   请查看以下文件中随附的配置寄存器。

    提前感谢、

    GSK

    e2e.ti.com/.../helloworld.c

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    尊敬的 GSK:

    遗憾的是、该器件不支持使用具有实时抽取功能的 NCO。 如果您需要使用 NCO、请转到复数抽取。

    此致、

    Mike Emanuel

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    尊敬的 Mike Emanuel:

    感谢您的快速响应。 具有 NCO 混合的复数抽取功能可以正常工作。

    此致、

    GSK

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    尊敬的 Mike Emanuel:

    在每次上电时校准 LVDS 对后、我能够在 FPGA ILA 中看到射频音调、以便 在中心对数据进行采样。

    因此、我在每次上电时都使用已知的模式通过 SPI 打开测试图形、并使用 IDELAYE2 基元根据 DCO 时钟调整这些数据通道。 调优数据通道后、我看到已知模式正确通过通道传输、然后关闭图形并切换到正常模式、但无法看到这些通道的完美音调。

    我从一周开始就一直坚持上述问题。 此器件型号是否有任何 RTL 参考代码?

     此致、

    GSK

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    尊敬的 GSK:

    很遗憾、我们没有 RTL 参考代码。

    您校准的模式是什么? 您的校准程序是什么?

    此致、

    Mike Emanuel

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    您好、Micheal Emanuel:

    很抱歉晚回复。  

    我遵循的开机顺序:

    打开电源、应用 初始复位并读取芯片就绪寄存器。

    设置 2 倍复数混合和抽取的 ADC 设置。

    通过将自定义图形寄存器设置为接收 0x555 及其反转 0xAAA 来打开测试图形。

    调整 IDELAYE2 抽头值、以在通道上提供最佳和预期的模式。

    关闭测试图形并将 ADC 设置为正常模式。

    6.即使预期的测试模式是匹配的,但它不适用于正常数据,如果我进一步调整抽头值,那么数据是好的。

    我遵循的顺序是否有问题?  

    此致、

    GSK

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    尊敬的 GSK:

    如 8.3.9.7 测试图形中所示、“测试图形发生器 取代了所有电流输出数据样本、正常 ADC 或抽取数据。“ 您是否尝试同时执行这两项操作(如步骤 6 中仍显示的测试模式所示)?

    此致、

    Mike Emanuel

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    您好、Micheal、

    我在 IDELAYE2 中对每个抽头延迟使用测试图形 5 秒 、并将通道输出与预期序列进行比较、如果它使用 RTL 逻辑匹配 5 秒、则我关闭测试图形并进入正常模式、即使 ADC 数据显示为干扰也是如此。

    此致、

    GSK

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    尊敬的 GSK:

    您能否将所做的寄存器配置和要发送到 FPGA 的命令发送到 ADC?

    此致、

    Mike Emanuel

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    尊敬的 Mike:

    我附加了 我正在使用的寄存器配置和 RTL 代码。 我将在 ADC 中打开测试图形、并向 FPGA PL 发送命令以通过 AXI GPIO 检查测试图形、找到哪个测试图形正常的最佳抽头值、然后通过 VITI 中的阶跃运行关闭测试图形。

    我将检查每个点击值 2 至 3 秒 如果测试模式的点击失败、则切换到下一个点击值。请浏览附件并帮助我解决此问题。

    此致、

    GSK

    e2e.ti.com/.../last_5F00_updated_5F00_adc3669.txt

    e2e.ti.com/.../1651.helloworld.c

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    尊敬的 GSK:

    在您获得良好的测试模式并正常看到不良输出后、测试模式在切换后是否再次工作?

     您是否检查过是否存在时钟漂移?

     当您捕获更长时间的测试模式以及正常数据时会发生什么情况?

    此致、

    Mike Emanuel