[参考译文] ADS124S08：ADS124S08 ~比预期慢 10 倍

尊敬的 JSR：

ADS124S08 数据表 中没有 图 2-9 和图 2-11。 我想您之前查看 过应用报告。

我有一些问题：

1. 图中 y 轴的归一化值是多少？  ch0 55us 和 ch0 16ms 在配置和测试方面有何差异？
2. 您是在指定的信道上进行测试、还是在每个信道上使用 1k Ω 电阻器切换了这些信道？ 您是如何对它们进行布线的？

建议：

1. 确保 REFP0 缓冲器打开 、而 REFN0 缓冲器关闭（这些是默认设置）。 您还应  从电路中移除电容器 CPR 和 CNR、为 CDR 选择一个较小的电容值、并将电阻器 RNR 替换为 0 欧姆电阻器。  
2. 按照指南选择差分输入电容器和共模输入电容器、1uF 电容器容值 较高、请参阅链接 【常见问题解答】Δ — Σ ADC 抗混叠滤波器元件选择中有关输入抗混叠滤波的详细信息。

BR、

Dale

尊敬的 Dale：

感谢您的及时回复。  您说的是对的、我看的是应用报告、而不是数据表；很抱歉。

感谢常见问题解答链接：在其中、我注意到共模滤波电容器应至少小 5 倍。

关于您的问题：

1.检查...

2.每个通道上都有一个专用的 1k 电阻器。  它的布线方式与 应用报告中的图 2-9 完全相同。

关于您的建议:我们会给这些尝试...

尊敬的 JSR：

根据我的建议修改电路并重新捕获数据后、请 尽可能共享您的原始数据和配置或软件代码。

BR、

Dale

以下是测量之前的寄存器设置：  

conv_delay: 14
datarate:   0x15
dev_id:     0x08
fscal0:     0x00
fscal1:     0x00
fscal2:     0x40
gpiocon:    0x00
gpiodat:    0x00
idacmag:    0x04
idacmux:    0xf2
idac_settling_time_ms: 0
inpmux:     0x01
ofcal0:     0x00
ofcal1:     0x00
ofcal2:     0x00
pga:        0x08
ref:        0x12
settling_time_ms: 10
status:     0x80
sys:        0x10
vbias:      0x00

转换代码为：  

static int ads124s_do_conversion(struct iio_dev *indio_dev,
				 const struct iio_chan_spec *chan, int *raw)
{
	struct ads124s_private *priv = iio_priv(indio_dev);
	int ret;

	dev_dbg(&priv->spi->dev, "%s\n", __func__);
	if (priv->meas_type == MEAS_TYPE_THREE_WIRE) {
		const struct ads124s_rtd_mux *m = &ads124s_rtd_mux_tbl[chan->channel];

		ret = ads124s_write_reg(indio_dev, ADS124S08_INPUT_MUX,
					(m->ain_p << ADS124S08_POS_MUX_SHIFT) | m->ain_n);
		
		ret = ads124s_write_reg(indio_dev, ADS124S08_IDACMUX,
					(ADS124S08_IDACMUX_OFF << ADS124S08_IDACMUX_I2MUX_SHIFT) |
					m->ain_idac);
		if (ret) {
			dev_err(&priv->spi->dev, "Set IDACMUX failed\n");
			return ret;
		}
		if (priv->idac_settling_time_ms)
			msleep(priv->idac_settling_time_ms);
	} else {
		ret = ads124s_write_reg(indio_dev, ADS124S08_INPUT_MUX,
					(chan->channel << ADS124S08_POS_MUX_SHIFT) |
					ADS124S08_AINCOM);
	}
	if (ret) {
		dev_err(&priv->spi->dev, "Set ADC CH failed\n");
		return ret;
	}
		if (priv->settling_time_ms)
			msleep(priv->settling_time_ms);
		

	dev_dbg(&priv->spi->dev, "Set ADC Channel\n");
	

	ret = ads124s_write_cmd(indio_dev, ADS124S08_CMD_START);
	if (ret) {
		dev_err(&priv->spi->dev, "Start conversions failed\n");
		return ret;
	}
	dev_dbg(&priv->spi->dev, "conversion started ch%d\n", chan->channel);

	msleep(priv->conversion_time_ms);

	ret = ads124s_read(indio_dev, chan->channel, raw);
	if (ret < 0) {
		dev_err(&priv->spi->dev, "Read ADC failed\n");
		return ret;
	}

	ret = ads124s_write_cmd(indio_dev, ADS124S08_CMD_STOP);
	if (ret)
		dev_err(&priv->spi->dev, "Stop conversions failed\n");

	return ret;
}

器件配置为“三线“测量类型。  

尊敬的 JSR：

感谢您分享寄存器配置。 您正在为每个 RTD 使用 3 个模拟输入通道（1 个 IDAC+ 2 输入）、但 连接实际上是 2 线 RTD 测量。 期待您的新原始数据。

BR、

Dale

尊敬的 Dale：  

完全同意。 名为“type_thre_wire“的 meas_type 枚举是一种传统的错误命名方式、我们一直认为这是要纠正的。  

或者您指的是其他东西吗？  对于两线测量、寄存器配置是否错误？

谢谢、

Sam

我们从电路中移除了 CPR 和 CNR、将 CDR 从 1uF 降低到 100 pF。 附上生成的图。 该视频比较了修改后的 SPI3.7 器件中未经修改的 SPI3.6 器件。  奇怪的是、只有通道 0 上的测量值发生了变化。  其他部分保持不变。  

该图显示了每个通道的 10 次测量序列。 Y 轴为 “Value/Last (value)- 1“

   for dev in devices:
        for ch, color in zip(channels, colors):
            t, v = read_channel(dev, f'in_temp{ch}_raw', args.n)

数据表在 10.1.6 中包含用于对单个通道进行多次测量的伪代码。  
是否有 在每个通道上进行单次测量循环使用多个通道的应用手册或示例？

第二个 — 我们无法访问 DRDY 引脚以用作触发中断。  目前、我们依靠开环时序 (msleep) 来等待转换完成。  是否有更好的方法来确定转换是否完成？  

您好、Sam、

我想您正与 Jeff 在同一个团队合作。

我认为您的寄存器配置看起来不错。 您的数据速率配置为 50SPS、使用低延迟和连续触发模式、因此  使用内部 4.096MHz 振荡器时、第一次数据转换应花费 5160*tmod、即 20.156ms、第二次及后续转换应花费 5120*tmod、 使用 内部 4.096MHz 振荡器时、这应为 20ms。  您 在进行测试时是否使用 0 欧姆电阻器替换了电阻器 RNR？

您可以在此 链接中找到代码示例。

此 链接中包含所有应用手册。

您是否在检查 DOUT/DRDY 引脚 12 上的数据是否就绪？

BR、

Dale