[参考译文] ADS124S08：输入电阻，电容，精度

您好，Ray，

不幸的是，我们没有 ADC 本身的特定输入电容，但我们有 IBIS 封装模型，可以使用，因为这很可能会占主导地位。  IBIS 模型可从 ADS124S08产品页面下载。

在达到0.1摄氏度的精度时，这取决于许多因素和使用的特定传感器。  这里的主要因素是噪音和漂移。  热电偶的一些附加注意事项是冷结点测量精度。  对于 RTD 测量，最佳方法是使用比率测量，其中参考由与传感器相同的激励源激发。  我建议客户查看 热电偶测量基本指南 和 RTD 测量基本指南中的材料。

您可能还需要共享 温度测量的代码库。

此致，

鲍勃·B

雷·文森特，您好！

我不知道客户所看到的哪些类型的 IC 显示了这些信息，但它可能是运算放大器，而不是 ADC。  有时会为某些较旧的 ADC 提供阻抗值，但通常会提供典型的输入电流，而不是 R 和 C 值。  投入的原因是动态得多，贡献也多。  输入电流可以来自输入采样，输入切碎和泄漏。  输入电流在第9页的电气特性表中给出。   

给出 R 和 C 值并不能给出完整的故事。  如上所述，输入的操作是动态的，将根据输入处的应用电压而变化。  为了提供更好的表示，您可以观察从 ADS124S08数据表第17页开始的图形上显示的行为。  由于 ADS124S08等器件高度集成，因此很难创建行为模拟，因为响应与增益和数据速率不同。  有些模拟可用于非高度集成的设备，例如前端没有 PGA (严格开关盖输入采样)的 SAR 或德尔塔-西格玛设备。  要分析错误，最好使用错误的根和平方(RSS)。

最后，ADC 如何影响测量结果取决于传感器。  对于热电偶，测量是电压测量，将取决于参考的准确度和漂移。  对于 ADC，将出现偏移和增益错误以及漂移。  另一个潜在错误是 INL。  测量中也可能存在与噪音相关的错误。  Δ-Σ ADC 是一款带有低通数字滤波器的过采样设备。  量化噪声被推入较高的频率，而低通数字滤波器将消除此噪声。  随着带宽的增加(更高的数据输出速率)，噪声开始成为测量的一部分。  因此，在确定噪音(如增益应用，信道突变和数据输出速率)导致的错误时，ADC 的配置变得非常重要。

对于 RTD 测量，我们建议测量为比率测量，其中 RTD 的相同激励也用于使用内置 IDAC 电流源建立参考。  参考是使用电阻器建立的，电压由通过电阻器的 IDAC 电流产生。  使用此方法的好处是测量中激发抵消的噪声和漂移误差。  但是，参考电阻器的准确度和漂移将增加其自身误差。  在使用2线，3线或4线 RTD 时，也会出现错误差异。  对于3线 RTD 测量，两个 IDAC 用于导联取消。  除非使用 IDAC 切块，否则与 IDAC 源不匹配和漂移相关的任何错误都会增加错误。

要查看总错误，我发现使用电子表格和错误来源的 RSS 分析要容易得多。  错误源必须使用相同的单位(例如 ppm，满刻度的%，UV 等)。  有些错误可以校准出来，如偏移和增益。

尽管 ADC 能够达到0.1摄氏度，但不能保证这种性能，因为还有许多其他外部误差贡献(包括传感器本身)。  此错误可能包括 EMI/RFI，印刷电路板布线不良，电源噪音和电源线路循环拾取。  还可能由于 ESD/EOS 保护设备而导致输入信号丢失。

就 EVM 而言，开发优先考虑了连接类型(电压，电流，桥接，热电偶，RTD， 等)来演示可能的配置，而不是性能。  换言之，没有经过优化的特定输入配置。  目前，我们没有关于 EVM 性能和温度分辨率的特定数据。

此致，

鲍勃·B