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[参考译文] LM9.864万：LM9.864万 ESD脉冲

admin
Guru**** 2582705 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/574323/lm98640-lm98640-esd-pulse

部件号：LM9.864万

您好，

我正在新设计中使用LM9.864万组件。

LM9.864万的输入通过100nF电容器连接到另一个组件。

在我的设计中，电容器前面存在过电压风险。 此脉冲可通过电容器，输入引脚OS-上可能出现15V峰值电流800mA的峰值电压。 此脉冲提供的最大能量为7.2µJ。

通过模拟HBM ESD测试，LM9.864万的输入似乎能够处理11µJ Ω 以上的电压。我通过连接至直流电压(VCLP)的16欧姆电阻器模拟输入引脚。

您能不能确认此脉冲(15V峰值/800mA峰值/LM9.864万 7.2µJ)不能破坏LM9.864万。

谢谢

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    TI__Guru**** 2582705 points
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    您好，Matthieu，

    我们已收到您关于设备LM9.864万的查询。 让我与团队确认一下，下周再联系你。
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    TI__Guru**** 2582705 points
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    您好，Praveen：

    我回来了解您是否对我的请求有任何反馈？

    谢谢
    Matthieu Baque
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    TI__Guru**** 2582705 points
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    您好，Matthieu，

    我对我的答复延误表示歉意。
    我将把您的帖子移至当前支持该设备的成像AFE论坛。
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    TI__Guru**** 2582705 points
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    您好Matthieu，

    我已要求我的产品工程师查找此设备的ESD数据，以便我们将其与您声明的条件进行比较。 我将在获得数据后向您提供最新信息。

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    TI__Guru**** 2582705 points
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    您好Matthieu，

    很难将ESD测试结果应用到其他过压情况。   这 真的取决于脉冲的持续时间。   ESD脉冲仅为纳秒。

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    TI__Guru**** 2582705 points
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    您好Kirby：


    我同意在其他测试中很难使用ESD测试结果，但我想获得意见。

    您能否解释一下可能是什么问题，ESD二极管是否由于脉冲持续时间而出现过热问题？ 因为我的电流和电压低于ESD测试的电流和电压。

    关于脉冲的持续时间，我在模拟中有300ns或400ns的HBM测试。

    对于我自己的过度应力脉冲，持续时间更像是2us。

    谢谢

    Matthieu Baque

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    TI__Guru**** 2582705 points
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    我希望您的状况会损坏部件。

    这是由于脉冲时间长而导致的热状况。

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    TI__Guru**** 2582705 points
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    Matthieu

    我的产品工程师向我提供了ESD信息。 LM9.864万可承受的HBM ESD电压为4000 V。在此测试中，我们提供4000 V， 峰值电流为2.40 - 2.93 A，时间为2-10 ns。 峰的衰减时间为130-170 ns。

    ESD测试仅 用于满足我们设备上ESD事件的JEDEC标准。 我知道从物理角度看，您的瞬变可能与ESD事件类似。 设备可能会像您计算的那样继续使用。 但是，TI不能正式保证或建议以这种方式使用此器件，因为我们尚未针对您所说的瞬态条件类型对其进行明确测试。

    也就是说，如果你认为根据你的计算，它会起作用，我的建议是在瞬态条件下测试多个单位，以了解该设备的存活率/可靠性。 但是，如果您遇到可靠性问题，TI不承担任何责任，因为我们不在数据表中保证这种特定情况。