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[参考译文] ADS5263:驱动电路

Guru**** 2564110 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS5263

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/611495/ads5263-driving-circuit

部件号:ADS5263

您好!

我们使用ADA4930驱动ADS5263。 ADC输入端信号的最大转换速率为47V/us。  采集时间应为~85ns。 下面是电路的一个碎片:

我们的设计是否有任何错误? 我对ADS5263的数据表(第63页)中的短语感到困惑:“建议使用与每个输入引脚串联的5 Ω 至15 Ω 电阻器来抑制由封装寄生物引起的振铃。 还需要为共模切换电流提供低阻抗(50Ω Ω)。 这可通过使用两个电阻器实现,每个输入端接至共模电压(VCM)。'

1)为什么我们要将这些5 Ω 至15 Ω 电阻器与每个输入串联? 我认为我们需要在"储液罐"电容器C5/C7和ADC的采样电路之间有一些可能的阻抗。

2)您能否解释为什么我需要"每个输入端接到共模电压的两个电阻器"?  

另一个问题是模拟输入等效电路(第62页的图90)。 我想模拟由采样电路引起的故障。

3)这三个开关的正时图是什么? 在转换期间,采样开关处于"关闭"状态,其余时间处于"打开"状态。 对吧? 第三个开关(最右侧)的正时图是什么?

谢谢!

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    Anton,

    感谢您对TI部件的关注。 我们已将您的职位分配给正确的应用工程师,我们应该会尽快回复您。
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    我的第一篇文章附有示意图,但有问题。 另一次尝试:

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    您好,Anton,

    数据表中的图103描述了数据表对问题2的含义,它可能仅适用于 添加共模电压信号 和交流耦合输入时。 由于放大器输出与ADC输入之间是直流耦合的,因此您只需确保VCM与数据表中指定的一样。
    5-15欧姆的输入电阻相当小,如果存在,建议减小振铃。

    我相信,仅在采样/采集过程中为采样电容器充电时,所有三个开关均已打开,但我必须与我的IC设计团队确认。 我将在下周结束之前收到回复。

    此致,
    奥卢

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    您好,Olu:

    ADC的输入电路模型和开关正时图是否有任何更新? 我们仍然存在较大的故障,以及如何处理驾驶电路参数。

     哪种驱动电路拓扑更好:a)有两个电容器,分别从ADC的+IN到GND和-IN到接地

    b)在ADC +in和-in之间有一个电容器,如上面的电路所示?

    另一个问题是输入时钟。 评估板数据表(slau344a.pdf)指出,我们可以使用窄带滤波器或正常曲面时钟滤波的醚正弦输入时钟。 对于精密低噪声设计,建议使用哪种选项?

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    您好,Anton,

    ADS5263的所有功能都是IBIS模型,如产品页面所示。

    我可以确认,在为采样电容器充电时,所有三个开关都同时开启,正如我前面提到的。

    如果要为ADS5263提供外部VCM,请确保其电压约为1.5V +/-50mV,如此处所示。

    关于电容器,两个电容器可能更好,因为电路除了差分电荷补偿外,还能提供共模充电补偿。

    两种时钟选项均正常,但LVPECL时钟边缘可能对设备稍好一些。

    此致,

    奥卢

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    我们正在使用内部VCM (寄存器0x42为80,引脚INT/EXT #56被拉至GND)。

    CLK_P的下降沿导致所有三个开关关闭(打开),而CLK_P的上升沿导致所有三个开关打开(关闭)。 对吧? POSege CLK_P与开关开启之间的延迟为t_A<3ns (孔径延迟)。 CLK_P的NEGEGGE与开关关闭之间的延迟是什么? 我们的故障因CLK_P的边缘延迟~20ns。  这20纳秒是否是CLK_P的NEGEGE与 开关关闭之间的延迟?  没有复位开关,因此采样电容器的电荷仍在采样之间?

    从+IN和-IN到GND的电容器不是接地共模噪声的路径吗? 这些电容器将略有不同(2 % 容差最多)。 它是否 会扭曲电路的差速器操作?

    ADS5263的IBIS模型是否能正确模拟模拟输入电路及其瞬变? ADS5263的宏模型是否存在?

    是否可以获得ADS5263评估板设计文件以仔细研究其布局?

    谢谢!

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    Olu,请回复上一帖子。 我们仍然需要您的帮助。 以下是ADS5263输入端的波形,信号恒定。

    单端测量(IN3A_P):

    以下是差分测量IN3A_P-IN3A_M:

    这是VCM输出引脚(ADC为内部VCM模式):

    所以我们有共模和差分故障。

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    您好,Anton,

    IBIS和SPICE模型可能不会帮助您模拟采样故障,因为它们通常分别用于验证输出接口和晶体管变化的影响。

    遗憾的是,我们也无法提供EVM的设计文件。

    您的放大器似乎有足够的BW来跟上ADC的采样操作-您的采样时钟是否为10MHz? 您能否提供INM引脚的范围捕获?

    您还可以使用全局PDN寄存器设置(寄存 器F)或PDN引脚关闭IC的ADC部分,以确保它不是来自主板上其他位置的噪声耦合。

    此致,
    奥卢
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    好主意! 谢谢! 我们将使用断电ADC测量迹线。

    输入时钟为10MHz (图像上的绿色迹线)。 我认为故障是由ADC引起的,因为其中一个故障相对于输入时钟的负边缘偏移~20ns。 ADC输入电路中的所有三个开关是否都关闭(打开)?

    请注意,输入信号是恒定的,因此采样电容器是在该电压下充电的,我完全不希望出现任何故障。

    以下是INM跟踪:

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    您好,Anton,

    你过得怎么样?

    感谢您使用我们的ADS5263器件。

    是,根据您对设置内部VCM模式的描述(如下所示):

    请仔细检查并确定您是否具有以下寄存器设置:

    谢谢!

    1)请将寄存器设置为Address=0xF0,Data=0x0000

    2)请将注册设置为Address=0x42,Data=0x8000

    3)请确保此引脚:INT/EXTZ已绑定到逻辑高。

    4)然后,请测量VCM输出电压约为1.5VDC。

    看看这是否有帮助。

    非常感谢。

    祝你度过美好的一天!

    此致,