[参考译文] LMP9.01万：信道与信号灯之间的串扰；一些明显嘈杂的部件

Belissario，


您能否将您的示意图张贴在另一个帖子中？ 当您开始另一篇文章时，单击"使用丰富格式"，您将能够嵌入图像或附加文件。 Google文档受TI内部网站的限制，因此我无法访问您的原理图。

如果我有机会，我将尝试在今晚稍后查看您的帖子。


吴若瑟

Belissario，


我与使用此设备的原始小组进行了检查，他们没有看到您描述的任何问题。 但是，这并不意味着我们不能看的事情。

对于串行通话问题，有两件事我可以想到，这可能会影响您测量时的采样顺序通道。 首先，如果输入被拉过电源，可能会出现严重错误，因为多路复用器无法正确采样。 如果模拟输入为5.5V，而电源电压为5V，则可能存在此问题。 我不认为这是您的问题，因为听起来您正处于电源电压。 其次，如果您启用了FGA/PGA，并且您已超出PGA的范围，则PGA可能需要一段时间才能恢复。 我认为没有办法在信道更改之间插入时间，但您可以从一个具有超范围输入的信道读取，然后切换配置以重复从下一个信道读取。 如果样本恢复到预期值，则可能是问题所在。

对于噪音问题，您能详细介绍一下噪音问题吗？ 我想查看原始数据(结果的ADC输出代码)。 这会影响所有频道还是仅影响选定频道？ 如果您只从一个信道读取，您是否看到相同的噪音？

诚然，我不知道问题可能是什么。 通常，对于 Δ-西格玛类型的设备，噪音性能表现良好，设备之间几乎没有变化。 对于您的噪声变化，变化是一个数量级。 表1-4和典型特性数据中给出的噪声一般都是一致的。

当有噪音时，我通常会检查参考和输入是否有过量噪音。 在您的设置中，噪音的可能性较小，因为您正在驾驶一组半桥，其中的测量值是比例式的。 任何噪音都会反映在参考和输入中，通常应取消。 不管怎样，我会检查一下当耗材更清洁时噪音是否降低。 如果您使用的是一些开关调节器，则可能会与采样频率和开关发生一些交互。 噪音可能与特定工作频率有关。 此外，如果电源中有电感(就像使用LDO作为电源，使用铁氧体进行过滤一样)，则电源中可能会有来自ADC的任何数字信号的噪声。 LDI/dt可能会导致电源线中出现较大的峰值，从而导致测量时产生额外的噪音。 我会绕过电感，看看它是否有帮助。

再次强调，我并不完全确定您的噪音来源，但您提供的任何信息都将有所帮助。

请告诉我您对我的评论的看法。 将您能够提供的任何详细回答发布回。


吴若瑟

尊敬的Joseph：

非常感谢您的详细回答和指导。

我们一直在做功课，这是一个更新。  关于串扰问题，我想我们将会解决这个问题。 对于噪音问题，我正在添加新信息和测试结果。 我在下面的引号之间写的。

Belissario，

e2e.ti.com/.../ADC_5F00_Dump_5F00_CH0_5F00_CH1_5F00_107SPS_5F00_NOISEvsCLEAN.xlsx
我与使用此设备的原始小组进行了检查，他们没有看到您描述的任何问题。 但是，这并不意味着我们不能看的事情。

对于串行通话问题，有两件事我可以想到，这可能会影响您测量时的采样顺序通道。 首先，如果输入被拉过电源，可能会出现严重错误，因为多路复用器无法正确采样。 如果模拟输入为5.5V，而电源电压为5V，则可能存在此问题。 我不认为这是您的问题，因为听起来您正处于电源电压。 其次，如果您启用了FGA/PGA，并且您已超出PGA的范围，则PGA可能需要一段时间才能恢复。 我认为没有办法在信道更改之间插入时间，但您可以从一个具有超范围输入的信道读取，然后切换配置以重复从下一个信道读取。 如果样本恢复到预期值，则可能是问题所在。

[/引述]

已检查上周生产的所有QC故障设备的电源电压，并始终发现其正常。 典型值为5.01V。

我做了很多测试。 传感器插入后，其他通道将测量值更改为新的稳定状态。 无论输入是否超出范围。

一个感兴趣的测试是：我用1的增益对CH5 (VIN4 - VIN7)编程，目的是在拔下传感器时不会超过PGA-FGA的范围。 与CH0-4不同，其增益仍为64。 扫描模式2使用firstCh = CH0，LastCh = CH5。 当我在CH5处插入传感器时，其他通道的测量平均每个通道丢失3800个计数(以24位通话)。 拔下电源插头后，它会恢复原始内存。

如果我们为CH5编程A=64并有意将其超出范围，我获得了相同的结果。

但是，正如我在上一篇文章中所说的， 这种对邻居输入的插头/拔下效应可以完全由软件管理，但请注意，它确实存在，但要注意不要使输入范围过广。 我将它包含在这个线程中，因为我怀疑它与噪音问题有关。  另请注意，要通过QC的部件噪音正常，将呈现相同的插头/拔出效果。

关于5 % 的交叉敏感性，我不能重复这种效果。 我不能完全确定，但我们要说的是，这是因为探头刺激机制的外部问题。 让我们考虑一下没有这种交叉敏感性。

然后我们将忽略完整的串扰问题。

关于噪音

[引述用户="Joseph Wu"]

对于噪音问题，您能详细介绍一下噪音问题吗？ 我想查看原始数据(结果的ADC输出代码)。 这会影响所有频道还是仅影响选定频道？ 如果您只从一个信道读取，您是否看到相同的噪音？
[/引述]

是的，无论选择了多少个信道，您都可以看到相同的噪音。

我附上了一份包含原始数据的电子表格。 本测试中仅将CH0和CH1包括在扫描中，以便在一段时间内获得更深的样品，同时充分利用有限的RAM空间。 在电子表格中，您可以看到噪音的性质，这种噪音来自某种"黑孤独样品"。 在内部，您还可以找到图表以及与典型的良好设备的比较。

[引述用户="Joseph Wu"]
诚然，我不知道问题可能是什么。 通常，对于 Δ-西格玛类型的设备，噪音性能表现良好，设备之间几乎没有变化。 对于您的噪声变化，变化是一个数量级。 表1-4和典型特性数据中给出的噪声一般都是一致的。

[/引述]

我认为你是对的。 我们在这些表中获得了设备85 % 的ENOB预测值。 它们工作正常！

[引述用户="Joseph Wu"]
当有噪音时，我通常会检查参考和输入是否有过量噪音。 在您的设置中，噪音的可能性较小，因为您正在驾驶一组半桥，其中的测量值是比例式的。 任何噪音都会反映在参考和输入中，通常应取消。

[/引述]

很棒！ 这也是我们的意图。

[引述用户="Joseph Wu"]

不管怎样，我会检查一下当耗材更清洁时噪音是否降低。 如果您使用的是一些开关调节器，则可能会与采样频率和开关发生一些交互。 噪音可能与特定工作频率有关。 此外，如果电源中有电感(就像使用LDO作为电源，使用铁氧体进行过滤一样)，则电源中可能会有来自ADC的任何数字信号的噪声。 LDI/dt可能会导致电源线中出现较大的峰值，从而导致测量时产生额外的噪音。 我会绕过电感，看看它是否有帮助。

再次强调，我并不完全确定您的噪音来源，但您提供的任何信息都将有所帮助。

[/引述]

我修改了一些PCBC，以便使用5V线性电源(变压器，全桥整流器，巨大的电解电容器，LM7805稳压器， 我以前在学校使用过;-) 在噪音方面获得了相同的结果。 出现故障的设备继续出现故障。

不管用什么方法，我测试了8台以上的故障设备，以确保结果。 正常设计使用TI的降压降压稳压器：TPS6.2163万DSGR。 我们遵循了数据表中有关滤波和PCB布局的明确说明。

请记住，当设备因噪音而未能通过QC测试时，当您使用全新的LMP9.01万部件更换LMP9.01万部件时，问题通常会消失。

然后我查阅了焊件曲线，它们都可以。 请记住，这些手动焊接过程(返工)始终是对设备的严苛测试。

如果我今天要结束这项讨论，我会得出结论，问题将来自IC的设计/制造。 然后，我们需要一些指南来避免或获得解决方法，为此，我们需要TI明确说明此噪音的性质。

我期待您对所附原始数据的分析。

此致。

Belissario，


我开始浏览数据图。 感谢您发送给他们。 我的第一印象是，有几个非常大的数据点错误偏移，输出代码是几千个代码。 但是，即使您排除了这些数据点，生成的数据仍然比一个良好的电路板噪声更大(可能是噪声的4倍)。 很难判断两个信道是否与大噪声有任何关联。 在某些情况下，两个通道可能存在相同的大错误，但错误中没有确定性。

我还没有任何结论。 我只是列出了您可能想要研究的事情。

1.通常，当我看到单点大错误时，它们通常是通信错误。 我认为这不是您的案例中的错误，因为您看到的错误高于或低于典型值(通常，如果SCLK线有噪音，SCLK会前进DOUT并使数据变大)。 只是为了确定，我会检查通信以查看是否有任何数字针脚发出噪音。

2.在出现故障的电路板上，我还会检查焊接以确保所有连接都已完成。 我会使用精细焊点烙铁来修复任何看起来有问题的连接。

3.组装完成后是否清除板上的助焊剂？ 在某些情况下，助焊剂是导电的，仅通过从原理图的其他部分导出信号即可产生噪音。

4.在测试噪音板时，您是否尝试降低增益？ 将增益设置为8，并在缓冲器关闭的情况下进行测量。 我想从连接中移除FGA，看看是否存在问题。

5.在原始配置中，您能否获得一组与中间电源短路的输入数据？ 如果有噪音，我想看看是否是累加的(如果输入短路，噪音仍会出现)，或者参考是否有贡献(输入短路时可能看不到)。

6. AIN7连接到一个通用基准半桥。 什么电阻构成了该电桥，您是否有电容来自电桥的电阻器？

7.出于好奇，您正在使用什么称重传感器？ 我只是想知道它们是什么。

再说一次，我目前没有任何结论。 我正在获取一个评估模块，以便能够测试设备。 但是，下周早些时候有一个假期，我无法向我们的正常渠道要求董事会，因为他们提前离开了。

我也检查了设备的最终测试，他们确实进行了串话测试(以防您仍有问题)。 我没有看到直接噪声测试，但他们确实有多个整体非线性(INL)测试，这些测试确实收集了多个数据点，并且可能会存储噪声结果。 在极小程度上，较大的噪音会干扰INL测试，并可能会标记该错误。

我将在下周初度假。 如果我所做的任何评论对您有所帮助，请告诉我。


吴若瑟

吴若瑟：
再次感谢您的合理回答。 我认为您的所有技巧都是一个很好的指导原则。

您知道吗？ 我们从今天开始对过滤器进行编码，以便丢弃这些大错误样本，我们还意识到，生成的数据仍会比在良好的电路板上获得的数据噪音更大。 对于每个通道，标准偏差将降至150，但无法达到60或50，因为它是在良好的板/设备上以稳定状态实现的。

我将以任何方式执行您建议的测试并更新结果。 我很有希望，相信我们能够，也应该找出影响特定部分的噪音的性质，以纠正或消除噪音。

我不确定我能否在这个论坛上公布所有答案；无论如何，我同意在这里更新论坛，以便得出一般性或最后结论。
但是，您认为是否可以提交/发送完整的结果和答案，以便以更保密的方式对TI进行分析？

祝您假期愉快！

Belissario。

Belissario，


我看到您现在可以连接到直接消息，因此我们暂时将其脱机。

请注意，您提到的设备标记与我们仍然标记设备的方式一致。 这些器件仍带有National Semiconductor徽标，ID代码以55开头，表示它是2015年5月生产的。

我仍在阅读您的数据。 此时，噪声似乎始终相同，无论增益如何(如标准偏差所示)。 对于增益= 8，我看到CH0数字对于噪声芯片看起来是正确的，但CH1数字的增益似乎不同。 此外，干净的芯片编号看起来好像完全是为了不同的增益。

再次请给我一些时间来浏览这些数字。


吴若瑟