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[参考译文] DAC5670:dll未锁定

Guru**** 2560390 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/614501/dac5670-dll-not-locking

部件号:DAC5670

我在1.2GHz的采样时钟运行DAC,遇到了一些无法锁定DLL的设备。  我对此有几个问题:

1. 从关于负延迟和正延迟的规范来看,似乎存在大量可能的DTCLK到CLK/4对齐,这将导致DLL没有足够的延迟来与所需的T/4点对齐。  即使是2.4GHz样例时钟,也似乎是如此。  如何确保DTCLK与CLK/4正确对齐,以确保DLL有良好的余量来锁定过程和温度?

2. DLL报告锁定的实际条件是什么?  

3. 什么是DLL的时间常数

谢谢。

标记

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    Mark,我可以帮您解答问题。
    1)不幸的是,唯一的方法是通过延迟分析和经验验证板。 在FPGA中实施外部PLL可能是可行的,以管理计时并根据某些性能测试培训延迟。 但据我所知,这可能相当复杂,而且之前未实施。
    2) DLL锁定输出无法正常工作,不能依赖它来指示锁定或解锁状态。
    3)我不确定我是否有相关信息。 我必须研究一下是否有。
    此致,
    涉水
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    Wade,

    关于DLL锁定输出不能正常工作,您能给我更多详细信息吗?  商业部分是否如此?  我们使用此DAC构建了100多个组件,几乎所有组件都具有良好的SNR/BER性能和锁定指示,并且直到现在才发现一些锁定指示灯较低的组件,但显然能够实现良好的时钟/数据对齐,因此看起来很奇怪 不能依赖。  如果锁定指示灯显示工作正常,是否存在与时间和温度不同的工作方式?  是否可以同时指示错误锁定和错误解锁?  

    建议不要使用DLL吗?  还是建议执行延迟分析,但仍使用DLL并忽略锁定状态?  如何确定界面中存在多少利润来考虑老化/工艺/温度等因素?  

    谢谢。

    标记  

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    遗憾的是,我没有关于锁销工作不正常或工作正常的情况的完整详细信息。 该功能已从空间版本中删除。 工业版有一个注释,表示它未完全正常工作。

    对于较低的频率,在重新启动(绕过)时使用DLL并进行延迟分析是有益的。 对于更高的频率,我认为唯一的选择是采用延迟分析和验证与延迟测量相结合的方法。 您必须确保在象限中操作,以便与DLL的时钟关系正在收敛到T/4点。 这可以通过在释放重新启动时使用作用域评估DTCLK和DLYCLK来实现。
    此致,
    涉水
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    关于DLL锁,数据表中仅包含工业版本的以下注释:“DAC5670的当前版本上的DLL锁指示器仅部分起作用。 当不存在DACCLK信号或DTCLK信号时,锁定信号可能指示DLL锁定状态。'  这就告诉我,只要我向器件提供DACCLK和DTCLK,我就可以依赖DLL锁作为锁的指示器。  这似乎与您最初的说法不同,即DLL Lock不能被依赖来指示锁定或解锁状态。  您能否确认在工业方面,假设所有时钟都提供给DAC,DLL锁可作为DLL状态的准确测量值?

    对于时间分析,我不清楚如何执行您提议的操作。  我们可以将DAC设置为旁路,并确定我们是否满足数据表和图3中的设置和保持要求,但图3中所描述的内容与图中所示象限的含义之间没有明确的关系 15.  

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    我从发布该设备的前代产品中了解到,锁定指示灯的功能工作不正常,无法依赖。  我搜索过更具体的数据,但无法找到任何数据。

    我将查看是否可以找到更多信息。  开发和发布此设备的大多数团队不再可访问。

    如果 DLYCLK的阶段可以在范围上进行监视,则可以释放重新启动。  DLYCLK将在相位中移动至扩展或锁定。   可以使用反向时钟(断言INV_CLK)完成同样的实验。  在一种情况下,应达到范围,而另一种情况下,应找到稳定的锁定。   不幸的是,这不是一个非常有力的方法。   

    对于其他验证,可以使用性能指标分析已知模式的输出。  这可以通过时钟和扫描温度和电压的两个相位来完成(如果可能)。  这也可以在重新启动时完成。   如果数据在有效窗口中发生变化,则可使用测量的性能指标来指示要使用哪种CLK相获得最佳稳定操作点。

    大多数使用过此设备的客户都在低于1GHz的范围内使用了该设备,DLL在重新启动时保留。

    此致,

    涉水