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[参考译文] ADC12J4000:ADC12J4000EVM测试模式

Guru**** 2380860 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC12J4000EVM, ADC12J4000
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/627533/adc12j4000-adc12j4000evm-test-pattern-mode

部件号:ADC12J4000
主题中讨论的其他部件:TSW14J56EVM

我们正在使用ADC12J4000EVMTSW14J56EVM评估ADC12J4000 ADC
TSW14J56EVM使用其原始固件运行。
注入射频载波信号时,频谱显示(FFT)看起来正常。
但是,切换至内部模式信号(Ramp)时,结果看起来不正确。
随附HSDC软件捕获的时间范围模式图片。


 如所见,已选择ADC12J4000_Bypass。
ADC12J4000EVM GUI中选择了“斜坡测试”模式。
测试模式在TSW14J56EVM GUI中启用。
我们遵循了SLAU551B (ADC12J4000EVM用户指南)中的说明,并且GUI应用程序均不报告任何错误。
请就上述问题提供建议。
我们是否忽略了任何可以解释这一结果的内容?

此致,

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    您好Shai

    斜坡测试模式始终是每个JESD204B通道的八位字节数据中的斜坡。 由于DDC旁路模式使用跨越八位字节的12位值,因此不会在12位数据中提供平滑的斜坡。您看到的模式是将八位字节斜坡信息作为12位样本处理的预期结果。

    您可以使用的另一种测试模式是ADC测试模式。 此测试模式是在ADC逻辑块的输出中创建的,它包含一组重复的12位数据值,这些数据值非常有用。 有关模式信息,请参阅第7.4 .5.1 ADC测试模式部分和表33。 通过设置寄存器0x058h的位2启用此模式。 (ADC_PAT_EN)。

    我希望这会有帮助。

    此致,

    Jim B

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    您好,Jim,

    感谢您的回复,这很有帮助!

    ADC测试模式似乎已成功捕获。
    它有16个样品的周期。
    附件是包含捕获数据的Excel文件,由HSDC SW生成。


    e2e.ti.com/.../TestPatt.xlsx

    此致,