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[参考译文] ADS1210:Vref,Vbias和Xin规范

Guru**** 2582465 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/633985/ads1210-vref-vbias-and-xin-specifications

部件号:

您好,

让我问您以下有关Vref/Vbias,Xin 规格的问题。

1)参考电压

   ℃的参考电压值为2.4V (最小值)至2.6V (最大值),规定的温度范围为-40至+85 ̊ C。

   我的问题是,在 -40至+85℃范围内,Vref值固定在2.4V至2.6V之间的一个值上,对吗?

   例如,一旦 该值在 25℃处固定为2.55V,该值在温度期间几乎与2.55V (25 ppm/℃)相同。 (未更改)

   或者,如果   温度漂移,该值可能会在2.4V至2.6V之间??

2)参考电压漂移

    ℃为25ppm/μ m,但这是"典型值"。

    如果可能,您会告诉我最大值吗?

3)维也纳国际中心

   我想VBIAS是从Vref生成的。

   所以我认为"最小值-最大值"范围与Vref具有几乎相同的关系。

    为什么"漂移"值 为50ppm/μ℃,与参考值25ppm相对?  (2倍大)

4)辛

   您能告诉我10MHz时Xin误差/余量的规格 吗?

   例如,页边距应 在+/-50ppm范围内。

由于我知道此设备太旧,无法检查规格,因此我 也很高兴 ,即使您的答案只是一般信息。

提前感谢您的支持。

此致,

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好,铃木山,

    请参阅下面我的答复。

    此致,

    Bob B

    [报价用户="Takumi Suzuki1"]

    部件号: ADS1210

    您好,

    让我问您以下有关Vref/Vbias,Xin 规格的问题。

    1)参考电压

       ℃的参考电压值为2.4V (最小值)至2.6V (最大值),规定的温度范围为-40至+85 ̊ C。

       我的问题是,在 -40至+85℃范围内,Vref值固定在2.4V至2.6V之间的一个值上,对吗?

       例如,一旦 该值在 25℃处固定为2.55V,该值在温度期间几乎与2.55V (25 ppm/℃)相同。 (未更改)

       或者,如果   温度漂移,该值可能会在2.4V至2.6V之间??

    [Bob]我们没有能力将参考电压调整为特定电压。  在最终测试时,参考输出电压在25°C时可介于最低2.4V至最高2.6V之间。 漂移规格来自模拟数据。  90台设备的寿命测试数据 显示平均位移约为-1mV,设备之间的标准偏差约为7mV。  从初始测试数据来看,参考值的初始平均值约 为2.4887V。  

    2)参考电压漂移

        ℃为25ppm/μ m,但这是"典型值"。

        如果可能,您会告诉我最大值吗?

    [Bob]很遗憾,我没有原始模拟数据可用。  由于内部参考存在初始精度,噪声和漂移问题 ,因此建议使用外部参考以获得最佳精度。

    3)维也纳国际中心

       我想VBIAS是从Vref生成的。 [Bob]回答正确。

       所以我认为"最小值-最大值"范围与Vref具有几乎相同的关系。

        为什么"漂移"值 为50ppm/μ℃,与参考值25ppm相对?  (2倍大)[BOB]由于涉及运算放大器来缓冲基准并添加1.333 增益,因此参考漂移是一个因素,但您还必须 包括运算放大器和增益电阻器的漂移。

    4)辛

       您能告诉我10MHz时Xin误差/余量的规格 吗?

       例如,页边距应 在+/-50ppm范围内。

    [Bob]因为这是一个旧的设计, 而且我记得 典型的晶体可能是100ppm。  目前 ,50ppm很常见,但也有30ppm。  我相信任何一种晶体都应该起作用。  该错误将与调制器频率和输出数据速率相对于 所选小数的变化有关。  我怀疑这种差异是否容易 看出,但不幸 的是,我没有任何数据支持这一结论。  通常时钟 抖动是调制器和 错误的主要因素。  当使用晶体振荡器作为输入而不是使用标准晶体时,应考虑这一点。  在大多数情况下,对于低数据速率和DC类型测量,几纳秒的抖动不是问题,对于更高的数据速率,量化噪声很可能会占主导地位。

    由于我知道此设备太旧,无法检查规格,因此我 也很高兴 ,即使您的答案只是一般信息。

    提前感谢您的支持。

    此致,

    [/引述]

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    Bob-San,感谢您的友好回复!
    此致,