尊敬的各位：
我正在使用4通道 Δ-Σ ADC的ADS131A04应变仪放大器设计。 对于我的应用，总共需要12个通道，但板面积有限，因此我设计了一个具有4个通道的小型可堆叠板。 其中三块板插入主电路板，带有用于信号处理的TM4C1294NCPDT。 通过SPI读出ADC的效果非常好。 但是，在检查信号时，我注意到一些ADC的所有4个通道都存在奇怪的干扰，其形式为低频振荡，每隔几秒定期发生一次。 信号向上摆动至0.5 －2mVpp，然后再次淡出。 由于来自应变仪放大器(INA827)的测量信号也在mV水平上，因此这种干扰是不可取的。 由于其性质，我相信也不可能过滤。
我怀疑我看到的是真伪声调/Δ-Σ ADC的限制周期。 这是因为当我更改ADS131的调制器采样速率时，在给定期间内获得的干扰数会相应地进行标度。 更改调制器与输出采样率的比率时，干扰的特性会发生变化。 图中的Y轴以V为单位，时间刻度以秒为单位。
鉴于我的假设是正确的，仍有一些我不理解的影响：
1)可能是由于添加另一个板时电源电流/电容增加而导致的整体噪声级别变化所致。
2)可能是由于生产过程中的变化(？)
至于其他效果，我不知道。 我们非常感谢您提供任何建议/帮助/意见。 我需要知道干扰的来源以及避免干扰的策略，然后再制造更多的PCB，而这些PCB最终对我的应用毫无用处。
每个正ADC通道的输入来自INA827仪表放大器的输出级。 负极输入连接到接地。 ADS131的AVCC/AVSS和IOVDD/IOVSS绑定到同一电源。 使用(非缓冲)外部电压参考REF5045。 图中的相关部分随附，供您参考。
由于这是我的第一个职位，我希望我提供所有必要的细节。 如果您需要了解有关电路，系统设置，电源或其他方面的其他信息，请告诉我。
