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[参考译文] ADS1294R:EMC辐射抗扰性测试期间的噪声突破问题

Guru**** 2527610 points
Other Parts Discussed in Thread: ADS1294R

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/594881/ads1294r-noise-breakthrough-problem-during-emc-radiated-immunity-testing

部件号:ADS1294R

我已实施了一个通常表现完美的1导联心电图,并且符合医疗设备的心电图标准(EN 6.0601万-2-25),辐射抗扰性部分除外。

在本测试中,频率范围为200MHz至1.3GHz,强度为3V/m时的射频场在心电图设备上发生事故,它必须继续满足"基本性能"-标准中定义的性能子集。

射频场的作用是使普通PCB噪声突破ADS1294R的ADC。 在我的案例中,有一个连接到ADS1294R的微控制器,它在其本地内存中以生成的速率(每秒500个)收集ADC样本,然后当达到阈值时,这些样本将以突发方式传输到系统处理器。 此突发每秒发生10次。 但是,此突发信号产生的噪声(包含高频内容以及+ve和-ve极性)在ADS1294R中以某种方式得到整流,并导致10Hz方波叠加在ECG曲线上,振幅高达约0.5毫伏 (说ADC转换值中的1万)。 这发生在大约150MHz至250MHz的入射RF频波段内)。

我尝试过的一些方法有一些好处,例如更好的去耦,但最有效的方法是改变连接到VCAP1引脚的电容器的值和等效串联电阻。 数据表提到"使用内部参考时,VCAP1节点上的噪音会导致性能下降"。 我确实使用内部参考。

我发现,将几欧姆的小电阻与VCAP1 22uF电容器串联是非常有益的-可通过50 % 改善噪声。

您能否提供任何进一步改进的建议? 谢谢

Jeremy

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    嗨,Jeremy,

    遗憾的是,TI不是这些器件合规性测试的专家。 我们从未在ADS1294R上执行过系统级合规性测试,如EMC测试。 我可以尽我最大的努力来帮助别人,但我不能保证我会非常博学。

    首先,让我更好地了解问题。 所以你有一个例程,它刷新微控制器中的软件缓冲区中的所有数据10次/秒 通常这不是问题,但当您将射频信号辐射到设备上时,您会获得某种10 Hz的互调?

    是否确定干扰与微控制器的数据传输速率相关? 您是否尝试过加快速率以将其移出ECG波段?

    我不知道为什么在VCAP1上放置电阻器有助于解决此问题。 我认为RF信号可以通过该引脚和其他引脚耦合到设备中,但我以前从未听说过这种情况。 所有通道的外观是否相同?

    此致,
    Brian