Other Parts Discussed in Thread: ADS1261, ADS1263, ADS1262
我正在寻找一种解决方案来测量具有交流激励和>50kHz 带宽的电阻式电桥。 因此、原则上类似于 ADS1261 / ADS1262 / ADS1263、但采样率提高了2.5倍以上。 作为一种折衷、我可以牺牲2-3 ENOB
哪些 TI ADC 具有„内部基准多路复用器”或„VREF 多路复用器”功能? 是否可以使用外部纵横开关、或者是否会引入错误来破坏交流激励优势?
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我正在寻找一种解决方案来测量具有交流激励和>50kHz 带宽的电阻式电桥。 因此、原则上类似于 ADS1261 / ADS1262 / ADS1263、但采样率提高了2.5倍以上。 作为一种折衷、我可以牺牲2-3 ENOB
哪些 TI ADC 具有„内部基准多路复用器”或„VREF 多路复用器”功能? 是否可以使用外部纵横开关、或者是否会引入错误来破坏交流激励优势?
尊敬的 Lukas:
您提到的器件是用于交流激励的精密 ADC。 它们是我们拥有的具有该功能的最快器件。 我们确实拥有更快的 ADC、但您需要创建一种使用外部控制器来控制用于开关的 H 桥或 FET 的方法。
我看到的使用快速开关(即使是 ADS1261)的用例存在由于模拟稳定而增加的噪声问题。 在高数据输出速率下使用交流激励时、我没有看到太多的价值。
我对您的应用一无所知、但交流激励的替代方案是使用全局斩波、这会削减输入级、但不会削减基准来消除失调电压。 当然、这种方法只能消除偏移、而不能消除传感器的自发热操作、因为交流激励将会带来好处。 A 建议查看 桥式测量的基本指南。
此致、
Bob B