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器件型号：DAC3174 描述：
1.当我们尝试检查 IO 测试模式时、它无法使用数据表中给出的模式
因此、我们在所有 IO 测试模式寄存器中写入0、但它在第一次尝试中失败、而当我们执行相同的过程时、它两次通过所有0
我们遵循的流程如下
- 在我的寄存器中写入0、这应该与具有 IO 测试模式的 DAC 寄存器相匹配
- 在 IO 测试模式代码中启用 SEL 行
- 复位 DAC
- 在所有 DAC IO 测试模式寄存器中写入0
- 清除 DAC 的第4个寄存器、用于测试图形结果指示
- 在 DAC 的0x1寄存器中配置0xE00E
- 在 DAC 的0x0寄存器中配置0x447C
- 启用 TXENABLE 线路
- 将 IO 测试模式代码中的 SYNC 引脚置为有效
- 读取 DAC 的0x4和0x5寄存器
仿真屏幕截图随附
