我们正在使用 ADS8167设计仪器。 我们有一个可用于测试的开发板、但我们希望获得一些数据表中不清楚的其他信息。
我们要数字化的输入通道是交流通道、具有在输出阶段使前端(+或-轨)饱和的特性、并且我们将在8个通道脱离饱和状态并达到稳定状态时对其进行采样。 馈送 ADS8167多路复用器的最终级是轨到轨单电源运算放大器、与轨相差约50至100mV 的驱动能力。 我们希望在最终级之外的未饱和信号上使用完整的 ADC 范围。 我们正在考虑使用内部基准运行、并使用 REFby2输出来设置最终级的中心电压。 AIN_CFG 将针对单独的通道(0)进行设置、COM_CFG 设置为1、其中 AIN-COM 连接到 REFby2以进行伪差分操作、REFby2_MRG 寄存器将设置为提供~100mV (01100001b)的偏移。
这种方法是否有任何问题?
为了节省稳压器成本、我们考虑使用5V 电压为最终级运算放大器供电(与 ADS8167 AVDD 相同)、这样 ADC 的电压值将比 Vref/2接近1V、而不是通过 Vref + 0.2V 电压为运算放大器供电、这将限制 ADC 输入 (ADC-INP - ADC-INM)更改为 Vref/2 + 0.1V (从数据表中可以看出这是允许的)。 这会导致以下问题:
- 如果多路复用器的输入高于 Vref + 0.1V -多路复用器通道之间是否存在串扰、会发生什么情况?
- 如果 ADC 在伪差分模式下尝试读取高于 Vref/2 + 0.1V 的值、会发生什么情况?
- 假设 ADC 在伪差分模式下将 Vref/2和 Vref/2 + 0.1V 之间的输入报告为0xFFFF、我们在中是否正确?
- 假设 ADC 在 伪差分模式下将-Vref/2-0.1和-Vref/2之间的输入(ADC-INP - ADC-INM)报告为0、我们在中是否正确?
数据表中的图22显示了噪声性能与温度间的关系。 假设这是内部4.096V 基准电压、我是否正确? 在图24中、图表显示了电压变化时的噪声、因此我假设它具有外部基准。 但是、图24显示的噪声在4.096V 时比图22上的25C 点更差。 您能帮我理解吗?
谢谢、Chip Weller