主题中讨论的其他器件: TMP235、 TLV2553
我们看到、与此帖子中提到的问题相同的问题:
关闭时间短(1-3秒)的电源周期会导致某些 TLV2556通道上的数据损坏。 关闭时间较长(> 4秒)的电源循环会导致正常运行、且数据不会损坏。 有关我们的应用的一些注意事项:
- SPI 总线连接到 FPGA
- 我们将在12位单极模式下对所有11个通道进行操作
- 我们将使用2.5V 外部基准
- ADC 输入由以下器件组合而成:
- 直接从 TMP235测量温度
- 电源电压监控器由一个电阻分压器和一个从分压器中心接地的电容器组成
- 10k Ω 热敏电阻分压器
- FPGA、ADC 和2.5V 基准均由相同的3.3V 电源轨供电
我们已在所有电源波形中添加了漏极电阻器、并验证在关断期间所有电压都已降至接近零伏、但问题仍然存在。 此问题的根本原因是否已知? 是否有可支持更短电源周期时间的解决方案?