您好！
目前，我正在参与设计 AO 模块。 我在我的设计中使用 DAC8554，我发现当被测通道不断更新时，VoutB 和 VoutC 的噪声明显高于 VoutA 和 VoutD。 我尝试在最新的数据表和 TI e2e 中搜索有关此问题的信息，但我没有找到我要寻找的确切答案。
DAC 本身使用4.096V 基准电压。 然后、DAC 的每个输出将被其各自的输出级放大并进行电平转换、以具有10V 至-10V 的完整范围、其中0V 为中标度。
我用于测量输出噪声的方法是让1个通道(受测通道)在100kSps 下持续输出10V、5V、0V、-5V 和-10V、而其他通道在0V 时处于空闲状态。 被测通道使用一个10kohm 电阻器端接。 该读数是使用625kSPS 模拟输入模块获取的、捕获600k 样本、样本的标准偏差是以 Vrms 为单位的噪声。 下图显示了噪声测量。 可以看出 VoutB (AO1)和 VoutC (AO2)高于 VoutA (AO0)和 VoutD (AO3)、当 DAC 输出接近其满量程时、差异甚至更大。
下图显示了所有通道的 FFT 在以十倍频程输出10V 时、幅值以 dB 为单位、对应于10V。
VoutA (AO0)、10V@100kSps
VoutB (AO1)、10V@100kSps
VoutC (AO2)、10V@100kSps
VoutD (AO3)、10V@100kSps
从上图中可以看出、VoutB (AO1)和 VoutC (AO2)的高频杂散明显高于 VoutA (AO0)和 VoutD (AO3)。 我尝试将 VoutA 的输出级与 VoutB 交换、但结果是相同的、无论输出级如何、VoutB 的噪声仍然高于 VoutA。
我看到这篇文章具有类似的行为、其中 VoutB 和 VoutC 的毛刺脉冲比 VoutA 和 VoutC 高。 根据我的理解、LDAC 的上升沿和下降沿会导致 VoutB 和 VoutC 串扰。 因为我也在使用硬件同步更新功能、所以 DAC 内部会发生什么情况？
我希望所有通道在输出相同电压时都应具有类似的噪声。 但是、即使我使用多个 DAC 进行测试、结果也不会以这种方式反映出来。 您对此有更多信息吗？ 您是否有关于超过20kHz 带宽的噪声杂散的任何特征数据？ 或者、您能就噪声测量提出建议吗？
非常感谢您分享您对此的一些想法。 谢谢！
