主题中讨论的其他器件:TMS570LS3137、
你(们)好。
我们在其中一个设计中使用了两个24位 ADS1248 A/D、并且这两个 A/D 在环境温度下(1000个电源周期)正常工作2年。 执行加电校准、结果始终用于提高数据采样精度。 此设计在 TI TMS570LS3137的同一 SPI1总线上使用两个 A/D、采用 MibSPI1协议、当然还有不同的芯片选择。
通过在 SYS0寄存 器中配置 SPS=640、输入 fCLK 为4MHz、校准将需要26ms 的时间才能结束、这在软件中是完全尊重的延迟。
典型校准偏移、几乎始终具有最大8lsb 可变校正、如下所示:
- A/D1 OFC 寄存器:0xFFFFFF4
- A/D2 OFC 寄存器: 0x000038
典型采样通道读数:
模数1 A/D #2
===================================
TATohm:100.449 ADPTohm:100.433
TAT_SE: 0.407 ADPT_SE: 0.381
AoA_HI:1.69017 AOS_HI:1.67619
AoA_WP:0.92478 AOS_WP:0.83765
PS_DIO:0.74319 PT_DIO:0.75141
Bee_1:4.99949 Bee_2:4.99915
最近、我们将产品置于温度认证中。 在大约-40°C 的温度下稳定了一段时间(小时)后、我们尝试打开设备电源。 虽然在大多数情况下、设备在此温度下正常运行、但至少观察到以下奇怪行为的2倍:
- A/D1 OFC 寄存器:0xDFFFA8
- A/D2 OFC 寄存器: 0x200057
如您所见、两个 A/D 的 OFC 寄存器是对另一个模数的完美补充、使0xFFFFFF.
采样通道读数错误:
模数1 A/D #2
===================================
TATohm:178.593 ADPTohm:22.517
TAT_SE:78.276 ADPT_SE:-77.560
AoA_HI:2.04800 AOS_HI:1.15313
AoA_WP:2.04800 AOS_WP:1.15286
PS_DIO:0.99588 PT_DIO:0.49188
Bite:1:6.15220 Bite:2:3.45857
不出所料(校准结果错误且它们是互补的事实)、对两个 A/D 的 CH1=(A/D1 CH1+A/D2 CH1)/2求平均值会得到与 校准成功的情况类似的结果。
我们的问题是、同一 SPI 总线上的两个独立 A/D 如何能够相互产生完美的互补校准结果? 您能否向我们指明故障排除的方向?
谢谢、致以诚挚的问候。

