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器件型号：AFE4300 你好。 我正在使用 AFE4300芯片进行阻抗测量。
目前 、测量过程是在 IQ 模式至 FWR 模式下执行的。
在 IQ 模式下、该过程以大约8k-16k-32k-64kHz 的频率继续进行。
测量的顺序为：测量目标的 I、Q 和基准电阻器1的 I、Q 以及基准电阻器2的 I、Q。
结果= 8kHz (TARGET_I、TARGET_Q、refer1_I、refer1_Q、refer2_I、 refer2_Q)、16kHz (相同)、32kHz (相同)、64kHz (相同)、FWR (目标、 参考1、参考2)... 重复。
我得到总共27个测量值、并重复测量序列。
但这里有一个问题。
在8kHz 时、I 值被采集为正值、Q 值被采集为负值。
然而、在16kHz、32kHz 和64kHz 时、Q 值变化很大。
在 FWR 中、度量值、reference1和 reference2都是正值。
我想当 IQ 模式下的频率发生变化时会出现问题。
我们如何解决这个问题？
