[参考译文] LMP90100：在接近较低工作范围的温度下产生干扰。

尊敬的 Alex：

感谢您的回答。

>从-40C 到85C 再到-40C 的速度有多快？

我们从23C 开始、将空调室配置为-40C、然后从-40C 配置为85C。 从23C 到-40C、气候室需要大约90分钟、从-40C 到85C、需要大约 60分钟。

>在这些温度变化过程中、您是否在某个点打开了处理室门、以便湿度正常工作？

不可以、我们不会打开腔室门。

>在获取数据之前、电路在这些温度下浸泡了多长时间？  

在-40C 和85C 温度下、我们等待 大约180分钟、直至器件达到温度并获取数据。

>我想在进行此温度应力测试之前确认器件未显示问题吗？  

这些器件之前未显示任何问题、在23C 冷复位后、它们恢复正常。

> 器件负荷测试后、器件是否继续显示问题？ 即测试导致的永久性损坏？

不可以、在下一个温度周期、有问题的 ADC 可能会再次正常工作、但其他 ADC 可能工作错误。

过渡和水分积累的相关信息。

我们的模拟输入通道具有皮卡化涂层。

此致

Miguel

您好、Miguel、

感谢您提供清晰的反馈。  

确实显示错误的器件在第二次、第三次、第四次进行温度应力测试时、是否继续显示相同的错误结果？ 故障是否可重现？

尊敬的 Alex：

当我们运行多个测试而不复位硬件时、我们会在受影响的器件上测量相同的干扰、但它不一定与上一周期中的器件相同。 因此、对于一个特定的器件、它不可重现。 我们只知道、当我们运行一个周期时、将会有器件出现此问题、但我们无法判断这是什么。

我们以为会出现配置错误、并在各种配置下进行了许多测试、但 干扰与配置无关。

此致、

Miguel

您好、Miguel、

这可能是 SPI 时序问题。 可能已经存在某种违反、并且随着在温度范围内执行测试、违反情况会变得更糟。 这是一个很难提出的问题、但是否可以获得示波器截图来显示您在整个温度范围内的 SPI 通信？ 如果温度不是过高、则室温是一个良好的起点。 来自 MCU 的低温原始数据也可能有所帮助。  

可能遗漏了某个位、或者存在某种类型的错误 SCLK、从而导致了该问题。  

尊敬的 Alex：

 干扰是恒定的。 我们会在几分钟内测量它们。 如果这是 SPI SCLK 问题、当数据因移位位而随机变化时、干扰是否像尖峰？

另一个观察结果是、这似乎不是 SPI 问题、即当我们运行 cylce 时、在最初的-40C 温度下、值是可以的。 该问题在进入85C 后出现、然后返回-40C。

之所以这样做、是因为我们在两个温度点测量一个不在气候室内的高精度电阻器。 我们希望在-40C 下的第二次测量中获得相同的值、干扰非常小、而在大多数器件中则是如此。

如果您想查看我们的措施的任何数据、请告诉我。

此致、

Miguel

您好、Miguel、

除非在一串 SCLK 的末尾持续发生该情况、否则可能会发生该情况。  

如果您可以获得、则与显示错误的器件进行 SPI 通信将会很好。 我想了解您正在接收哪些数据、并知道您希望接收哪些数据。 从这里、我们可以看到是否有遗漏的位、或者 SCLK 是否在不应跳闸的情况下被跳闸。 然后、我们可以查看通信的时序、以确保温度变化不会导致违反时序。   

尊敬的 Alex：

在我们的内部会议中、我们讨论了 SPI 问题的可能性。 当我们在"ScanMode2：一个或多个通道连续扫描"中测量三个通道时、此干扰仅出现在一个通道上、这一事实使我们认为 SPI 可能不会成为问题。

[报价用户="Alexander Smith">如果您能获得该信息、则与显示错误的器件进行 SPI 通信将会很好。 我想了解您正在接收哪些数据、并知道您希望接收哪些数据。 从这里、我们可以看到是否有遗漏的位、或者 SCLK 是否在不应跳闸的情况下被跳闸。 然后、我们可以查看通信的时序、以确保温度变化不会导致时序违规。

我们需要一些时间来实现这一目标、因为实际的流行病情况。 我将告诉您我们何时可以向您提供数据。

感谢您的耐心等待。

此致、

Miguel