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器件型号：ADC32RF45 在分析从 ADC32RF45转换的 DDC 数据时、我们发现每个样本的 I 和 Q 似乎不能满足 I=A cos()和 Q=A sin ()的高精度、至少不能满足16位、更像是12~13位。 测量是使用锁相信号输入并通过关联 I 和 Q 来消除 A 的影响。 我们的应用旨在测量从 I/Q 到可能的最高精度的幅值 A、因此丢失位会引起我们的关注。 我们猜的是 cos ()和 sin ()的计算(可能是乘法)可能会有截断错误、这些错误在所提供的16位 I/Q 数据中可见。 问题是、是否可以更详细地了解数字算法的这一部分是如何实现的、以便我们可以对其进行建模并理解我们的观察结果？
谢谢。
