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器件型号：ADS6245 您好！
有关测试模式的两个问题：
- 我尝试使用两种测试模式(全为零、全为1)对齐所有四个 LVDS 数据通道、希望更改将在同一个采样中发生(如果不是、则在设计中产生延迟)。 问题是、有时变化不是"平滑"的-在两个图形之间的一个(并行)时钟周期内对一个意外值进行采样、从而破坏了所述的整个对齐概念。 这是已知行为吗？
- 考虑替代方案-我不确定如何使用切换模式。 在0101之间切换... 至1010... 每个时钟只能确定通道之间是否存在延迟、而不能确定哪一个延迟。 是这样吗？
谢谢你。
