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器件型号：AFE4300 根据 TI 的测量结果、通过校准电阻校准后、测量另一个的复阻抗相位阻抗、只需减去校准电阻的相位角、三相位角电阻校准应类似于、 但°测试发现、AFE4300EVM - PDK 套件和我们自己在电路板上的开发中的相位角差异有时达到6 ~ 7 μ s 左右、您能告诉我原因是什么？
根据 TI 的测量结果、通过校准电阻校准后、测量另一个的复阻抗相位阻抗、只需减去校准电阻的相位角、三相位角电阻校准应类似于、 但°测试发现、AFE4300EVM - PDK 套件和我们自己在电路板上的开发中的相位角差异有时达到6 ~ 7 μ s 左右、您能告诉我原因是什么？
