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[参考译文] DAC8771:CCOMP 问题

Guru**** 2511415 points
Other Parts Discussed in Thread: DAC8771

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/913733/dac8771-ccomp-issue

器件型号:DAC8771

您好!

最初、客户的 DAC8771在设置"Buck-Boost Config"寄存器和 VOUT 使能时出现较大的毛刺脉冲。
Vout 波形
配置 DAC 寄存器(ADR:0x4)写入0x1613
输出电压降至-12V


根据客户调查、CCOMP 连接到2.2 uF。
删除2.2uF 改进了 VOUT 使能端的波形。
输出电压:蓝色
VPOS:绿色
VNEG:红色


客户问题
(1)当相位补偿电容器 连接到 CCOMP 引脚时、设置寄存器时 VOUT 大幅下降的原因是什么?
(2) VOUT EN 上出现毛刺脉冲是一种规范、但它大于 D/S 输出 EN 毛刺脉冲。 请告诉我如何抑制这种干扰。
放大
输出电压使能 毛刺脉冲:4V  

(3)输出级的电容器似乎未安装在评估板上。
     (slau727,P14图12 :C19)
     我们希望保留该电容器、但如果您移除了该电容器、请告知 TI。
     

从 D/S 说明中、我了解 CCOMP 用于大型容性负载驱动器的相位补偿。
假设交流特性恶化、因为有一个很大的电容器连接到 CCOMP、
即使没有容性负载。 TI 的其他评论加深了对客户的理解。
 还随附了我们的客户原理图。
此致、
Hiroshi
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    一个小问题

    (3)输出级电容器似乎未安装在评估板上。
    (Slau727、P14图12:C19)
     我们希望保留该电容器、TI 为何移除它? 如果有原因、请告诉我。
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    在回答您的具体问题之前、我会做一些一般性评论。 DAC8771 VOUT DAC 是用于驱动高达1uF 电容负载的电缆。 对于大于20nF 的容性负载、补偿电容器必须放置在 CCOMP 和 VOUT 之间。 补偿电容器的值为150pF。 较大的容性负载需要 Ccomp 来确保 DAC 稳定性、而 Ccomp 则通过减小 VOUT DAC 缓冲器的带宽来工作。  

    1.客户在其设计中使用2.2uF ccomp。 该值明显大于150pF 要求、并且可能会降低 VOUT 带宽、从而使系统对阶跃变化的响应速度极慢。 这可能是启用 DAC 后干扰较大的原因。  

    2.请要求客户用150pF 替换 ccomp 并重新测试。 同样、在20nF 至1uF 的电容负载之间驱动时、这是必要的

    VOUT (C19)上可以有一个输出电容器。 默认情况下、不会为 EVM 板安装输出电容器和 ccomp、只是为了让客户能够灵活地测试不同的输出负载配置。  

    此致

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    Reza-San、
    谢谢你。
    对于 Q2、我要求客户调整输出电路。
    此致、
    Hiroshi