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器件型号：ADS1258-EP 主题中讨论的其他器件： ADS1258
大家好、团队、
我的客户正在使用 ADS1258-EP 执行一些测试。 他们希望分享这些结果、并查看有关如何提高 ADC 精度的任何建议。
他们使用以下 配置进行此测试：
- 斩波已启用。
- 数据速率设置为11
- 最后11位被屏蔽关闭。
- 测试是在环境条件下完成的。
- 在 ADC 的 AIN 11上施加1V 精密输入、采集1000个样本、对其求平均值并读取结果。
- 在 ADC 的 AIN 11上施加3V 精密输入、采集1000个样本、对其求平均值并读取结果。
他们在该测试中看到以下结果。 未校准部分的结果中似乎存在很多误差。
客户对以下结果有一些疑问：
- 是否有方法可以减小未校准输出中的误差？ 因为它是 Δ-Σ 转换器、所以根据我的理解、结果应该非常好。
- 校准(直线法)只应用于其中一个芯片、以减少偏移和增益误差。 我们能否将这些校准系数存储在微控制器存储器中、并将这些系数应用于不同控制器的所有芯片？ 由于不同芯片的失调电压和增益误差会有所不同、因此我不确定是否可以在其他芯片上应用这些校准系数？
感谢您的支持！
Errol
