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https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/950986/dac3161-how-to-use-the-io-test-function-of-dac3161
大家好、
现在、我们的客户可以输出正常波形、但如果温度变化过大、FPGA 和 DAC 数据接口之间可能存在时序不匹配。 调整寄存器延迟后、它可以恢复正常。 因此、我们的客户希望使用 DAC 芯片的内部 IO TSET 功能来实现接口计时验证。 但是、无论如何配置、该函数都无法正常使用。
您好、Amy、
我将在我的末尾测试此功能、并将在本周结束时向您更新。
此致、
Neeraj
我将提供一个 PowerPoint、介绍为 IO 测试功能设置 DAC 的步骤。 此外、我将链接一个旧的 E2E 帖子、我们在其中讨论了如何使 IO 测试正常工作。
我已经在 PowerPoint 中测试了这些步骤、并且能够使用 DAC3174的 IO 测试功能。 由于 DAC3161与 DAC3174属于同一器件系列、这些说明也适用于 DAC3161。
e2e.ti.com/.../5658.DAC3174-Pattern-Test-Feature.pptx
e2e.ti.com/.../616322
David Chaparro
