[参考译文] ADS1243：读取差分输入时出现尖峰

尊敬的 Saurabh：

我很难理解到底是什么问题、您能发布显示错误结果还是正常结果的波形吗？  

发生错误时、系统中是否有任何开关？  

是否仅显示长期测试的错误、或者是否立即可重新生产？  

我不确定我理解你这句话的意思。 您是不是说、当两次错误之间的间隔较长时、误差会更小？ 您能否发布图片以帮助解释？  

"即使在85ms、130ms、150ms 的间隔内也会观察到尖峰、不过在较高的间隔(>130ms)下、可以看到偏差会减少到~5000、尖峰会在时间上略微扩散。  "

感谢 Alex、

请参阅随附的文件、其中一项测试捕获了原始 ADC 输出、该输出周期性地读取通道(在读取通道1后、我们将多路复用器设置为通道2、依此类推)、间隔为114ms。 通道2有3个尖峰为~20、000、通道3有2个尖峰为~30、000。 需要注意的一点是、即使没有连接传感器、也会观察到这些尖峰。

e2e.ti.com/.../ads1243_5F00_channel_5F00_2_5F00_3_5F00_plots.docx

为了检查间距读操作是否有用、执行了两次读操作之间延迟较长的测试。 这是输出、通道的读取间隔为162ms。 请注意、间隔越长、尖峰的幅度越小(~4000-5000)、但其发生率会随时间的推移而扩展、这由波动区域表示。

此外、不是仅在长运行测试中观察到尖峰、而是在长运行中观察到的概率更大。 在测试期间、系统不会执行计算密集型任务/功能、也不会执行任何其他外部激励。

尊敬的 Alex：

感谢您的建议、应检查数据采集系统是否可用于记录输入、或者是否可使用示波器进行监控、排除干扰并比较值。 请找到所述子系统的方框图。 我将尝试从原理图和 share.e2e.ti.com/.../loadcell_5F00_ads1243_5F00_block_5F00_diagram.docx 中提取相关器件

此致、
Saurabh

尊敬的 Alex：

正如您所说的、将器件的原始数据与软件读取的计数进行比较可以排除数据路径中的任何问题。 这意味着、随着时间的推移、需要记录示波器输出、直到问题出现为止。 我将检查这种方法是否可以实现。 电源干扰也是如此。 随附的 Vref、Vcc 值在几分钟内受到监控、看起来不错。 但是、当出现尖峰时、需要检查这些值。

此致、
Saurabh

当然、Alex、感谢大家的帮助。

此致、
Saurabh