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器件型号:ADS7042 我已经阅读了有关高源阻抗的数据表和应用手册、但所示示示示例涉及保持一些采样率、例如10ksps。 在我的应用中、我可能每隔几个小时只需要进行一次测量、因此采集时间本身不存在问题、因为 ADC 始终在 CS 处于高电平时采样。
我的问题是输入电阻是否会引入其他误差、例如10K 欧姆、例如保护二极管泄漏等。
谢谢、
Julia
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我已经阅读了有关高源阻抗的数据表和应用手册、但所示示示示例涉及保持一些采样率、例如10ksps。 在我的应用中、我可能每隔几个小时只需要进行一次测量、因此采集时间本身不存在问题、因为 ADC 始终在 CS 处于高电平时采样。
我的问题是输入电阻是否会引入其他误差、例如10K 欧姆、例如保护二极管泄漏等。
谢谢、
Julia
您好!
在您使用的如此低的速率下、高源电阻等方面不是问题、因此仅在更高的采样率下解决该问题。
有关保护二极管的更多信息、我建议观看我们 的 TI 高精度实验室 视频系列、该视频系列涵盖 ADC 的 EOS 和 ESD 主题、这将很好地覆盖该主题
在这样的情况下、如果输入长时间保持稳定、则可能不会引入任何误差
此致
Cynthia