[参考译文] DAC7760：DAC7760的损坏原因是什么？

DU、

您能否进一步详细说明测试的条件和结果？

具体而言：

－在测试期间，哪个输出处于活动状态？ VOUT 或 IOUT？ 是不是？
-您能否分享有关钳位二极管参数的任何详细信息？
同样，您能否提供 TVS 二极管的详细信息？ 我无法可靠地读取器件型号
-您是否在 VOUT 或 IOUT 处于活动状态时执行测试？

亲爱的公爵

将 DAC7760置于电流模式、输出19mA、开路。
此时、输出和 GND 短接和断开数次会立即损坏 DAC、在我们的实际使用中、长时间使用时、很可能会发生 Iout 短连接器、从而导致类似的损坏。
芯片本身是否具有此类损坏特性？或者我们是否有设计缺陷？是否有任何方法可以防止此类损坏？ 如何设置正确的输出限制电阻？

亲爱的公爵

   1、在我们的测试过程中电流输出/IOUT 处于活动状态。 当 ANALOG_OUT_0 (下图)对 GND 短路(行为错误、但无法在客户提交的应用中避免)时、DAC 会损坏。

附齐纳二极管(DZ9和 DZ10)和 TVS 二极管(Dt5)的数据表。

DU、

您是否可以测量开路到短路事件期间 IOUT 引脚上的瞬态行为？

当电流输出短接至 GND 时、在给定电路板和系统级寄生效应的情况下、输出的小信号稳定时间响应可能会出现下冲。 根据寄生效应的幅度、这可能会使电流输出级输出级中的 ESD 单元发生正向偏置并导致损坏。 确定这种情况的最佳方法是示波器捕获。

为了纠正这一问题、我们建议增大 R57的阻抗、修改外部二极管或向 AVSS 添加一个较小的余量电源以适应下冲瞬态。

卡文

 

我们通过 R57、CH1和 CH2的电压差测量瞬态 IOUT、如下图所示：

DU、

感谢您分享这些图像。 图2似乎确实显示了内部 ESD 单元可能发生正向偏置的情况、因为存在超过15V AVDD 电源电压的小瞬态峰值、但很难说。 在这两种情况下、DAC 是否都损坏？

AVDD 和 AVSS 线路上是否还有 TVS 二极管？ 我能否看到示波器捕获这些线路在瞬态期间的表现？