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[参考译文] ADC12D1600:测试图形

Guru**** 2382480 points
Other Parts Discussed in Thread: ADC12D1600
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/841881/adc12d1600-test-pattern

器件型号:ADC12D1600

大家好、

客户使用 PIN 模式来控制 ADC12D1600、在多路信号分离器模式、非 DES 模式、加电校准、使用测试图形、 根据数据表说明、测试模式将具有连续010。 现在、客户在 FPGA FEF 中捕获的数据 DI 为两个周期、010为三个周期、010不会出现在 FEF 周期的两倍。 时序限制满足要求。 问题可能出在哪?

此致、
罗美

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Amy、

    测试模式已通过 ADC 验证、并与 数据表表表2相对应。

    您的测试设置是否可以捕获"Q"输出测试模式? 很有意思的是、看看是否会发生相同的问题。

    其中008h 应在 T4和 T5上重复两个周期。

    此致、

    Rob