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器件型号：ADS124S08 各位专家、您好！
我使用 ADS124S08进行 NTC 测量、在进行噪声计算时、我最终得到了一些相当糟糕的结果。 我希望您能帮助我了解实际情况以及如何提高系统分辨率。
我的设计目前采用两线制低侧拓扑、我的主要关注点是基准电阻器所需的精度以及电阻容差和温度漂移对噪声的影响。
我 ºC 使用0.05%容差的电阻器和10ppm/μ s 系数。 这显示了良好的成本/效益比率。 看起来更高精度的电阻器要贵得多。
关于噪声计算、我将使用参考 slau520a - 3线 RTD 测量系统参考设计中的公式。
对于以下计算、我有以下参数：
- VIN (max)= 0、735V (由 Rref、NTC 和 IDAC 电流计算得出)
- 增益= 1
我使用等式38-40得到的电阻容差误差为：
- 增益误差= 0.0498%
- 增益误差噪声= 367、45uV
我使用公式56-60得到的温度漂移误差为：
- 温度增量= 65 - 15 = 50ºC μ V
- 电阻漂移= 0.05%
- 电阻漂移导致的增益误差= 367、45uV
仅这两个源产生的总噪声等于525、05uV (平方根和)、并使用组件数据表(eq 1)中的有效分辨率公式、得出 ENOB 为11、479。
此外、当我的系统需要3、08欧姆时、该 ENOB 可提供5、25欧姆的电阻分辨率。
问题是：
- 这些计算是否正确？ 最终的 ENOB 和分辨率数字是否正确？
- 如何在不重复使用昂贵的基准电阻器的情况下改善这种情况？
- 是否可以在制造过程中进行校准以消除容差误差？ 是的、如何才能做到这一点？ (需要何种设置、需要何种工具、需要多长时间等。)
此致。
