[参考译文] VSP5610：VSP5610

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器件型号：VSP5610

您好、TI、

我们有以下与 AFE VSP5610相关的问题：

以下方法是否适合测量本底噪声？

-在 CDS 模式 +像素钳位中配置 AFE

-去耦模拟信号输入(AINx)和模拟信号接地(AINGNDx)、0.1uF 至电路接地(AGND)

-测量 AFE 的数字计数。

此致、

普尔维

0 admin 6 年多前

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您好、Purvi、

您测量噪声的方法是正确的。

通过0.1uF 电容将 AINx 和 AINGNDx 交流耦合到 AGND、您将测量空闲通道噪声。

CDS 模式可降低复位噪声和其他低频噪声。

0 admin 6 年多前

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Praveen、您好！

感谢您的快速响应。

我们有以下问题：

当 AFE 的 AINx 引脚通过电容器连接到 AGND 时、该引脚上应显示恒定的直流电平。对吧？
本底噪声测试是否取决于 SHP/SHP 时序值？如果是、我们如何确定 SHP/SHD 时序值？当 CCD 信号被注入 AFE 时、我们知道 SHP 和 SHD 时序的配置方式应确保 SHP 脉冲在 CCD 信号的"参考电平"期间下降、而 SHD 脉冲在"数据电平"期间下降。但是、当信号连接到 AGND 时-我们如何配置 SHP/SHD 时序？

此致、

普尔维

0 admin 6 年多前

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Praveen、您好！

您是否有机会了解这一点？

此致、

普尔维

0 admin 6 年多前

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您好、Purvi、

我已回复了您在电子邮件中的问题、但没有收到您的回复。

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