[参考译文] ADC122S021：数据读取前的额外跟踪脉冲

您好！

附件似乎没有正确穿过。 请使用文本框中提供的图标/选择工具重试。

您是否确认过时序、PCB 布局和软件特性在以前的构建到这个构建期间保持不变？

我不确定"跟踪脉冲"是什么意思、但根据您的评论、DOUT 数据中会出现额外的脉冲？

请在附件中包含额外脉冲的示波器截图

此致

Cynthia

你好、Cynthia

感谢您的回复。 我将再次尝试执行附件 æ、-k Ω 现在同时作为 PDF 和 PPT。

是的、它是相同的软件和相同的 PCB 版本。 我搜索了其他错误/故障组件、但运气不好。

我看不到、其中的哪一个应该能够使这种情况发生故障、那么信号及其完整性看起来是可以的。

根据数据表、前3个时钟周期(CS 之后)为跟踪模式(SCLK 通过 CS 启动降低、然后直接进入跟踪模式)。

MSB 在第4个时钟上计时、如器件顶部的图所示、这是我将认为正确的情况。  

但是、在"冷机"(室温)中、MSB 首先出现在第5个时钟上、这会导致帧读数偏移。  

希望这能更清楚地说明这个问题。

Carstene2e.ti.com/.../ADC_5F00_fail.pptxe2e.ti.com/.../0310.ADC122S021_5F00_fail.pdf

感谢 Carsten、

示波器截图非常有用。 看起来 SDO 在一个时钟脉冲上移位。

让我们首先消除新电路板/设置

您能否从未 显示任何故障的旧版本中将故障器件从新电路板移除到电路板？ 如果器件故障、则 我们已消除新构建。

之后、我们可以开始对其进行调试。

这似乎只影响 CS 下降沿之后的第一次转换。 从示波器屏幕截图中可以看到第二个转换结果是正确的。 是这样吗？  我想使用最大正刻度的输入。 这将清楚地显示 SDO 线路何时输出零和有效 SDO 数据。

我有一些一般性问题。 有多少设备发生故障？ 温度是否会产生很大影响？ 例如、您是否在较低的温度下看到它、它是否变得更糟？

此致

Cynthia

e2e.ti.com/.../ADCs_5F00_read_5F00_OK.pdfe2e.ti.com/.../ADCs_5F00_read_5F00_fail.pdfe2e.ti.com/.../Isolator_5F00_difference.pdf

你好、Cynthia

正如建议的那样、我尝试在两个故障电路板和两个正常电路板之间交换 ADC。 失败与电路板有关。 您可以在附加的图上看到读数如何受到影响。 然后、我尝试从时序中获得更多信息、并看到 CE 信号下降时间的差异(APP 2us=工作、5us=bad)。 然后、我尝试更换驱动器(光隔离器)、这使 OK 板损坏、反之亦然。 因此、这必须是根课程。 现在、我需要弄清楚为什么 CTR 对于该器件显然变得如此低、但为此、我不能责怪 ADC。 但是、在 ADC 规格中、CE 下降时间没有限制、而只是对这种情况的"死区时间"有限制。 正确吗？ 无论如何、感谢您在本案例中付出的努力。

/Carsten