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您好!
使用我们自己的原型硬件在 TGC 模式下对"低频"信号进行采样时、我们遇到了信号失真问题。 我们启用 LNA HPF (200kHz 截止频率)和 PGA HPF。 INP 与15nF 交流耦合、INM 旁路为15nF。 我们不使用任何有源终端、但我们对有源终端引脚进行交流耦合、使其具有1uF 电容、因此我们可以利用输入电压钳位功能。
注入高于特定振幅的30kHz CW 测试信号、采样信号开始在振幅和失真方面消失(出现多个谐波)。 然而、使用示波器在 AFE INP 上测量的信号是一个干净的正弦波、因此 AFE 内部似乎有一些东西在发生。 禁用 LNA HPF 和 PGA HPF 似乎可以"解决"此问题、但由于非零直流电平、我们会失去有价值的 ADC 范围。
在我们看来、HPF /直流补偿电路很可能会导致问题。 顺便说一下、将 INM 上的旁路电容器从15nF 增加到1uF 没有帮助。
更详细地说、AFE 按照数据表中的电源序列进行初始化、包括硬复位、然后对以下寄存器进行编程:
0x000001 (软复位)
0x010014 (必须写入)
0x032000 (14位 LVDS)
0x040011 (MSB 优先、14位 ADC)
0x430000 (无时钟偏移)
0xc30018 (PGA HPF 关闭、LPF 10MHz)
0xc41000 (LNA HPF 关闭)
0x150000 (HPF 关闭)、
0x020080 (同步模式)
这里有一些 LVDS 时序/同步与我们 FPGA 中发生的测试模式...
0x020000 (正常采样)
0x000000 (ADD_OFFSET = 0)
0xc30008 (24dB PGA、启用 PGA HPF、10MHz LPF)
0xc4c200 (独立 LNA 增益、LNA HPF、1.5Vpp 输入钳位、无有源项。)
0xc50200 (低噪声和噪声系数模式)
0xc60200 (DIS_CW_AMP=1、TGC 模式)
0xc9aaaa (所有 LNA 12dB 增益)
0xcb0088 (EN_DIG_TGC=1、200kHz LNA HPF)
0xcd0000 (PGA_CLAMP 半轴= 0、SUPRESS 更高谐波= 0、V2I_CLAMP = 0、RED_LNA_HPF_3X=0)
对于一些不同的输入电平、我们在 AFE 输入端使用振荡器测量~30kHz 的干净正弦波、 但是、我们在采样数据中观察到的结果显示在下图中(其中显示的 I = AFE 通道16、Q = AFE 通道15用于部分采样序列、而 FFT 在整个序列上完成)。
输入~10mVpp:

输入~35mVpp (某些谐波分量开始更清晰地显示):

输入~100mVpp (在这里、信号电平和谐波含量明显跳变):

寄存器编程中是否存在我们所做的错误、或者 HPF/DC 补偿电路中是否存在一些我们无法理解的限制?
谢谢、
Christme.



