[参考译文] ADS1299：在测试模式下获得的值转换和测量毫伏的值根本不准确。

尊敬的 Alex：

感谢您的快速回复。

这来自 ADS1299数据表：  

设置 CHnSET[2：0]= 101会提供内部生成的测试信号、以便在上电时用于子系统验证。
此功能允许测试器件内部信号链。

用于测试的配置为：CONFIG2：b 1101-0011 (校准信号振幅=-(VREFP-VREFN)/2400

我使用了单极5V 电源配置。 根据数据表(第24页)  

图25显示了 ADS1299-x 内部基准的简化框图。 4.5V 基准电压为
以 AVSS 为基准生成。 使用内部电压基准时、请将 VREFN 连接到 AVSS。

因此、VREFP=4.5V 和 VREFN=0V 时的测试校准振幅为-4.5/2400=-0.01875伏。=-1,875毫伏=-1875微伏

正如您在帖子中所说的 GAIN=1：  

LSB = FSR / 2^n、其中"n"为 ADC 分辨率或 LSB =(2 x VREF)/增益/ 2^24。 在本例中、FSR=4.5伏、然后 LSB=4.5/2^24=0.000000268伏=0.268微伏

对于该测试值(-0、01875=-1875微伏)、C2中的二进制3个字节将为：4.5-0.01875=4.48125 / 1LSB =解码16708612、97 =hex FE-F4-04

正如我在帖子中所说，在测试中获得的值是(MSB 优先)：  

0xFF (255)、0xED (237)、0xDA (218)、对应于-0.00124伏特而非预期-0.01875伏特。

干扰内部测试信号是否可能会产生噪声影响？

除了这个内部生成的测试信号之外、我使用正电压和一个多转位电位器进行了测试。

对电压变化进行了良好的跟踪、但值(约5mV)不具有预期分辨率、但远低于内部信号测试用例中的值。

考虑使用此类分辨率是不可能的。

显然、数据采集功能正常工作、但在数字阶段出现了问题。

我查看了 SPI 接口、但数据看起来是一致的。

此致

Javier

Javier 好、

我看到您的计算中有几个小错误
因此、VREFP=4.5V 和 VREFN=0V 时的测试校准振幅为-4.5/2400=-0.01875伏。=-1,875毫伏=-1875微伏
-应该=-0.001875伏、只是一个小数位误差、远接近-0.00124伏。 但是、距离应该更远。

LSB = FSR / 2^n、其中"n"为 ADC 分辨率或 LSB =(2 x VREF)/增益/ 2^24。 在本例中、FSR=4.5伏、然后 LSB=4.5/2^24=0.000000268伏=0.268微伏
-2xVREF 中的"2"消失了。 LSB 大小应为536.442nV 或0.5364442uV。

您的操作从此处看起来是正确的。 您能否提供 DOUT 的示波器截图来验证返回的十六进制值是否正确？
您能否探测基准电压以确保其稳定在4.5V？

可以在该分辨率下测量微伏；LSB 大小为536nV、这意味着每微伏有两个"阶跃"。 但是、正如您指出的、测量中存在噪声。 如果您尚未看到它、请查看表1的"无噪声位"列。 在250SPS 时、我预计将有20.1 NFB。