[参考译文] ADS124S06：测量误差

您好、Thai Trinh、

您能否分享您正在使用的寄存器设置的其余部分？  根据基准缓冲器设置、可能会由于基准滤波电阻器上的压降而产生误差。  我建议您将 REFN-电阻器(R21)更改为0欧姆、并禁用 ADC 的 REFN 缓冲器。  我还建议启用 REFP 缓冲器。

另一个简单的选择是发出 SFOCAL (自偏移校准)、以消除 ADC 内的任何器件偏移。

此致、

Bob B

您好、Thai Trinh、

对于20sps、您为寄存器4显示的配置不正确。  对于低延迟滤波器、它应该为0001 0100、并且在连续转换模式下、它的数据输出速率应该为20sps。

我建议您设置 PGA 寄存器、以便启用 PGA (0000 1000)。  启用 PGA 后、输入阻抗将高得多、这将限制偏置电流的误差、从而在输入滤波电阻器上产生压降。

SFOCAL 通过在内部短接输入并为单个基准输入(校准时选择的基准输入)获取多个读数来消除偏移。  您可以为 ADS124S06启用全局斩波(将寄存器4中的位7设置为1)功能、而不是使用 SFOCAL 命令。  全局斩波通过在内部交换输入、然后对两个读数求平均值来进行两次测量。  执行全局斩波的结果是移除了所使用基准的 PGA/调制器的偏移。   

当使用一个单一基准输入时、SFOCAL 最有效。 您可以选择以下选项：

• 在每个测得的输入通道转换之前发出 SFOCAL。  完成校准、然后测量输入通道需要相当长的时间。
• 或者、在启动和通道配置之后发出 SFOCAL、然后(存储到微控制器存储器中)将每个通道值的配置偏移存储到存储器中。  然后、在每次转换之前、将正确的值恢复到 OFCAL 寄存器中。
• 或者、针对所选通道发出一次 SFOCAL、并对两个通道使用相同的校准。  由于基准电阻器和 IDAC 输出之间的任何微小差异、可能会有一些小误差。
• 或者、只需使用全局斩波。

以上内容将仅校准 ADC 的偏移误差。  它不会校准任何与 RTD 本身非线性相关的增益误差或误差。  如果您尚未阅读 《RTD 测量基本指南》、我建议您阅读该指南。

我想重点介绍第1部分、其中讨论了 RTD 等级的各种差异以及 RTD 本身在测量中可能出现的误差。  要校准 RTD、您需要一个非常精确的温度源来将 RTD 放置到其中、然后创建查找表来开发 RTD 的分段线性化。

另一种选择是使用几个(2个或更多)非常精确的电阻器来确定增益斜率。  然后、测量的斜率将乘以结果、以校正任何增益误差。

您最终选择的操作可能是值得的、也可能不值得。

此致、

Bob B